面向芯片设计的测试新理念

SoC芯片的发展使集成电路测试重要性越来越明显,传统的测试概念已经不适用现在和将来的集成电路测试需求。本文将详细分析这个问题,列举在集成电路测试中面临的问题,引出一种面向芯片设计的新的测试理念,并介绍基于这一理念的一系列新的解决方案,分别对应快速响应市场的需求和提升新产品品质的需求。

HDMI芯片的测试

HDMI是高清晰度多媒体接口(High-Definition Multimedia Interface)的简称。作为新一代的数字视频/音频传输标准,HDMI理论上可以支持4Gbps的数据传输率,足以支持2.25G*3bps的数据传输要求,所以已经被广泛的应用于HDTV等数字消费类产品。HDMI Source芯片的测试技术,包括在性能评价测试方法和大规模量产测试的解决方案。

非接触IC卡芯片的低成本测试

随着RFID技术和规范的不断成熟,我国的第二代身份证卡上开始使用基于RFID技术的非接触IC卡芯片。对于设计验证和大规模量产时面临的测试问题,本文介绍了一种非接触IC卡芯片低成本测试的解决方案。与普通的测试方法要求IC测试仪(ATE)有比较昂贵的混合信号测试部件来发送/识别RF信号相比,该解决方案只需要ATE有一般的数字电路的测试功能,结合RFID应用模块,就可以在保证测试精度和稳定性的前提下实现对芯片要求的所有测试。其最大的优点是大大降低ATE本身的硬件成本,测试时间很短,并且有很好的灵活性。