面向芯片设计的测试新理念

SoC芯片的发展使集成电路测试重要性越来越明显,传统的测试概念已经不适用现在和将来的集成电路测试需求。本文将详细分析这个问题,列举在集成电路测试中面临的问题,引出一种面向芯片设计的新的测试理念,并介绍基于这一理念的一系列新的解决方案,分别对应快速响应市场的需求和提升新产品品质的需求。

T2000面向不同测试需求的灵活对应

随着半导体集成电路产业的迅猛发展,IC的集成度越来越高,这就使得IC的功能越来越复杂。因此对于半导体集成电路测试设备在灵活配置性、可升级性以及低成本性方面的要求也越来越高。Advantest的T2000作为新一代的半导体测试系统,针对不同的测试需求均有灵活的对应方式。

高效低成本的MCU测试解决方案

MCU产品是半导体家族中的重要成员,是日常生活中随处可见的IC元件。MCU的市场增长潜力巨大,全球半导体贸易统计协会WSTS和市场调研机构IC Insight公司均预测,MCU市场将快速增长,于2007年将超越150亿美元,而其主要驱动力则来自消费电子、汽车电子的超高速发展。主要讲述了MCU的测试方法,同时对MCU的发展趋势,以及MCU的测试系统进行了简单介绍。

领跑于世界前沿的存储器测试技术

近几年,中国半导体存储器市场一直保持高速地增长,数字系统和产品以及移动通信的发展都是半导体存储器市场增长的主要推动力。本文着重讲述了当今主流半导体存储器的先进测试方法。此外,本文对半导体存储器及其发展趋势,以及存储器的测试系统也做了简单的介绍。

T2000高速接口测试解决方案

应对PC中数据的高速传输以及HDTV等消费类应用中的高格式数据传输,各种高速接口被广泛应用,而这些高速接口芯片在ATE系统上的测试遇到了很大挑战,ADVANTEST以6GSPM结合开放式模块架构的T2000测试系统提供了高效低成本的测试解决方案,可以应对HDMI等各种高速接口的测试要求,人性化的操作界面还为编程和调试提供了极大的便利。

HDMI芯片的测试

HDMI是高清晰度多媒体接口(High-Definition Multimedia Interface)的简称。作为新一代的数字视频/音频传输标准,HDMI理论上可以支持4Gbps的数据传输率,足以支持2.25G*3bps的数据传输要求,所以已经被广泛的应用于HDTV等数字消费类产品。HDMI Source芯片的测试技术,包括在性能评价测试方法和大规模量产测试的解决方案。

用于WLAN(802.11b)基带处理器芯片组的高速ADC及DAC的测试

简要介绍了清华大学微电子研究所设计的用于WLAN(802.11b)基带处理器芯片组的高速ADC及DAC,以及爱德万测试如何使用WVFG/WVFD实现高速ADC蛐DAC的测试。

MCP存储器从设计到大规模量产测试的完善解决方案

当前,集成电路的生产趋向不仅单位面积的集成度一再提高,器件封装更向空间发展。主要的存储器生产厂都将采用多芯片封装(MCP)形式作为未来存储器件封装的重点发展方向之一。本文着重阐述针对越来越大的多芯片封装存储器大规模量产测试需要,作为占据测试领域领先地位的爱德万测试ADVANTEST所提供的,涵盖从设计端到最终成品测试整个产品链的业界最尖端的完整解决方案。

OPENSTAR^(TM) ATE及第三方测试模块开发

介绍开放架构 ATE 的标准——OPENSTAR^(TM),并探讨测试模块的概念及其开发整合的流程。

用于WLAN(802.11b)基带处理器芯片组的高速ADC及DAC的测试

随着通讯和电子技术的发展,用于通讯接口的模拟芯片的采样频率也越来越高,测试难度也相应大大增加。ADVANTEST使用高速混合信号测试系统对其进行评价。本文以用于WLAN(802.11b)基带处理器芯片组的高速ADC及DAC为例,详细介绍了其具体测试过程,对具体测试时所用方法及所用部件WVFG/WVFD进行了说明。而WVFG/WFVD作为高速混合信号测试部件,其测试能力最高可达250MHz采样频率,解决了高速ADC/DAC测试(尤其是AC参数测试)的难题,完全可以满足当前高速混合信号芯片的测试。

下一代开放式架构测试解决方案

近来随着IC市场的多样化发展趋势,对能够覆盖各种专业测试功能的IC测试系统要求也日益迫切,同样如何降低测试成本也是至关重要。为了适应相应的需求,解决面对的问题,爱德万测试公司(ADVANTEST)推出了下一代开放式架构测试解决方案——T2000 SoC测试系统。

着眼未来的 LCD 驱动芯片测试技术

概要:近年来,随着彩屏手机、PDA和家用液晶显示器的推广,国内各大半导体设计公司和生产厂商都开始着眼于LCD相关IC的设计和生产。从测试的角度来讲,高速发展的LCD驱动芯片对其所需要的测试环境也在不断提出更高的要求,着重介绍怎样针对LCD驱动芯片的发展趋势提供评价和量产所需要的测试平台。

基于Advantest T6500系列的USB2.0测试解决方案介绍

通用串行总线(USB)是现在应用很广的接口,本文首先对目前最常用的USB2.0接口进行简单的介绍,接着对USB2.0的一部分测试项目及在ATE上的测试方法进行简单的介绍。

T6372——引领LCD Driver IC测试新潮流

主要介绍了液晶显示器件的发展趋势,以及液晶显示器件对测试的挑战。介绍了爱德万测试公司的新品T6372的主要特性,及其针对LCD特性所提供的测试解决方案。

非接触IC卡芯片的低成本测试

随着RFID技术和规范的不断成熟,我国的第二代身份证卡上开始使用基于RFID技术的非接触IC卡芯片。对于设计验证和大规模量产时面临的测试问题,本文介绍了一种非接触IC卡芯片低成本测试的解决方案。与普通的测试方法要求IC测试仪(ATE)有比较昂贵的混合信号测试部件来发送/识别RF信号相比,该解决方案只需要ATE有一般的数字电路的测试功能,结合RFID应用模块,就可以在保证测试精度和稳定性的前提下实现对芯片要求的所有测试。其最大的优点是大大降低ATE本身的硬件成本,测试时间很短,并且有很好的灵活性。

LCD Driver测试技术

近年来随着彩屏手机、PDA等移动终端的普及,液晶电视等平板显示器件的推广,液晶显示器已经逐渐取代CRT成为主流的显示器件。LCDDriverIC作为液晶显示器的重要部件,需求量也日益增大。国内目前很多生产设计厂商已经开始相关产品的开发和生产。就LCDDriverIC的特点,介绍应用ATE(AutomaticTestEquipment)对其进行测试的方法。

OPENSTAR—测试系统新概念

当今IC业的发展十分迅猛,因此对于ATE(Automatic Test Equipment)在低成本性、可再配置性、可升级性以及灵活性方面的要求也越来越高。本文将对OPENSTAR这么一个全新的测试系统概念进行介绍。