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便携式X射线荧光光谱测定车用三元催化剂中铂钯铑
被引量:
15
1
作者
徐文松
尤静林
王小欢
《冶金分析》
CAS
CSCD
北大核心
2014年第3期30-34,共5页
采用粉末样品杯法制样,建立了用便携式X射线荧光光谱对车用三元催化剂中贵金属铑(Rh)、钯(Pd)、铂(Pt)含量进行实时、在线定量分析的方法。比较了6种实验室常用样品薄膜对测试结果的影响,通过透光率试验发现各样品薄膜对能量高于5.4keV(...
采用粉末样品杯法制样,建立了用便携式X射线荧光光谱对车用三元催化剂中贵金属铑(Rh)、钯(Pd)、铂(Pt)含量进行实时、在线定量分析的方法。比较了6种实验室常用样品薄膜对测试结果的影响,通过透光率试验发现各样品薄膜对能量高于5.4keV(24 Cr以后元素)的X射线的透光率为100%,样品膜越薄其分析灵敏度就越好,实验时选用厚度为4.0μm的Ploy-4样品膜;研究了元素谱线之间的干扰重叠校正,采用背景扫描与α经验系数法相结合的方法进行基体校正,避免了因基体的变化对测定准确度的影响;讨论了X射线荧光光谱法中检出限的计算方法,采用Pt、Pd、Rh含量较小样品多次测试结果的标准偏差来计算检出限,铑、钯、铂的检出限分别为14.04μg/g、18.17μg/g、8.40μg/g。对一种车用三元催化剂粉末样品进行精密度考察,相对标准偏差(RSD)控制在4.0%之内;对8个车用三元催化剂实际样品进行分析,经与电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)进行比对,测定结果基本一致,相对误差在10.0%之内,方法的准确度能够满足车用三元催化剂回收要求。
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关键词
便携式X射线荧光光谱
实时分析
在线分析
车用三元催化剂
铂
钯
铑
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职称材料
X射线荧光光谱法测定纸上涂硅层厚度
2
作者
徐文松
杨阳
《理化检验(化学分册)》
CAS
CSCD
北大核心
2013年第11期1383-1384,共2页
随着经济的迅速发展,各行业对不干胶的需求量迅速增大。在不干胶生产过程中,为降低底纸表面张力、获得光滑的表面、防止粘合剂黏在底纸上,需要对底纸表面涂布硅油层。涂布工艺较多,但硅油对涂布工艺质量影响较大,因此需要对硅油层...
随着经济的迅速发展,各行业对不干胶的需求量迅速增大。在不干胶生产过程中,为降低底纸表面张力、获得光滑的表面、防止粘合剂黏在底纸上,需要对底纸表面涂布硅油层。涂布工艺较多,但硅油对涂布工艺质量影响较大,因此需要对硅油层进行质量控制,确保最终产品符合质量的要求。
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关键词
X射线荧光光谱法
硅层
厚度
测定
表面张力
表面涂布
工艺质量
生产过程
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职称材料
题名
便携式X射线荧光光谱测定车用三元催化剂中铂钯铑
被引量:
15
1
作者
徐文松
尤静林
王小欢
机构
上海
大学材料科学与工程学院
牛津
仪器
(
上海
)
有限公司
工业
分析部
出处
《冶金分析》
CAS
CSCD
北大核心
2014年第3期30-34,共5页
文摘
采用粉末样品杯法制样,建立了用便携式X射线荧光光谱对车用三元催化剂中贵金属铑(Rh)、钯(Pd)、铂(Pt)含量进行实时、在线定量分析的方法。比较了6种实验室常用样品薄膜对测试结果的影响,通过透光率试验发现各样品薄膜对能量高于5.4keV(24 Cr以后元素)的X射线的透光率为100%,样品膜越薄其分析灵敏度就越好,实验时选用厚度为4.0μm的Ploy-4样品膜;研究了元素谱线之间的干扰重叠校正,采用背景扫描与α经验系数法相结合的方法进行基体校正,避免了因基体的变化对测定准确度的影响;讨论了X射线荧光光谱法中检出限的计算方法,采用Pt、Pd、Rh含量较小样品多次测试结果的标准偏差来计算检出限,铑、钯、铂的检出限分别为14.04μg/g、18.17μg/g、8.40μg/g。对一种车用三元催化剂粉末样品进行精密度考察,相对标准偏差(RSD)控制在4.0%之内;对8个车用三元催化剂实际样品进行分析,经与电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)进行比对,测定结果基本一致,相对误差在10.0%之内,方法的准确度能够满足车用三元催化剂回收要求。
关键词
便携式X射线荧光光谱
实时分析
在线分析
车用三元催化剂
铂
钯
铑
Keywords
portable X-ray fluorescence spectrometry
real-time analysis
on-line analysis
vehicle- used ternary catalyst
platinum
palladium
rhodium
分类号
O657.34 [理学—分析化学]
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职称材料
题名
X射线荧光光谱法测定纸上涂硅层厚度
2
作者
徐文松
杨阳
机构
牛津
仪器
(
上海
)
有限公司
工业
分析部
出处
《理化检验(化学分册)》
CAS
CSCD
北大核心
2013年第11期1383-1384,共2页
文摘
随着经济的迅速发展,各行业对不干胶的需求量迅速增大。在不干胶生产过程中,为降低底纸表面张力、获得光滑的表面、防止粘合剂黏在底纸上,需要对底纸表面涂布硅油层。涂布工艺较多,但硅油对涂布工艺质量影响较大,因此需要对硅油层进行质量控制,确保最终产品符合质量的要求。
关键词
X射线荧光光谱法
硅层
厚度
测定
表面张力
表面涂布
工艺质量
生产过程
分类号
O657.34 [理学—分析化学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
便携式X射线荧光光谱测定车用三元催化剂中铂钯铑
徐文松
尤静林
王小欢
《冶金分析》
CAS
CSCD
北大核心
2014
15
下载PDF
职称材料
2
X射线荧光光谱法测定纸上涂硅层厚度
徐文松
杨阳
《理化检验(化学分册)》
CAS
CSCD
北大核心
2013
0
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职称材料
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