CT-SD16探测器辐射剂量测量原理和参数设定

目的介绍了一种用半导体电离室测量多排CT辐射剂量的原理和方法,为完善我国现有医疗CT检测规范提供技术信息。方法通过介绍X射线辐射剂量计Barracuda的测量原理和多排CT辐射剂量测量的参数设置依据,并结合在Philip Brilliance iCT 256机器上的应用实例,阐述了用半导体电离室的探测器测量多排CT辐射剂量的关键技术。结果基于CT扫描参数合理设置探测器参数后,多排CT辐射剂量空间分布情况得以较好展示。100 mm长杆空气电离室的测量范围远小于多排CT线束覆盖范围,需要对多排CT辐射剂量测量方法和技术进行更新。结论新型探测器有利于揭示多排CT辐射剂量的特性规律。