1997年三季度中国电子工业产品质量指标统计情况

据1997年第3季度对全国电子行业质量指标统计分析,1997年三季度电子工业产品质量水平较1996年同期略有上升,全国合计情况如下:*97年三季度产品质量等级品率(76.04％)比96年同期(78.84％)下降2.8％。

1994-韩国电子工业呈稳步发展势头

几年前,韩国经济以两位数的速度迅猛增长。1988年汉城奥运会成功举办使全国人民特别是工业界人士信心空前提高,韩国似乎能够挤身于世界强国之林。 即使如此,韩国人的强国之梦在八十年代末期仍未彻底实现。除了受基础设施限制外,韩国还过分依赖出口。所以,九十年代初期,国际市场的风云变换对她的经济产生直接的影响,韩国经济开始萎缩,人民的信心又感到茫然。

非工作期微电路的可靠性预计模型研究

通过分析影响非工作期微电路可靠性的主要因素，采用大量的现场和试验数据进行归一化-线性化-回归分析，研究各主要影响因素与微电路非工作期失效率的定量关系，进而建立可靠性预计模型，该模型预计的失效率与电子设备非工作现场失效率比较，初步验证结果良好。

可靠性预计技术的发展研究

本文在跟踪研究国内、外可靠性预计技术发展动态的基础上，分析比较了美国MIL－HDBK－217系列和我国GJB／Z299手册的发展情况；论述了考虑早期失效、试验与现场数据、环境应力筛选等因素的预计法及各方法的代表模型；就建模基础、元器件覆盖面、费用、适用范围等方面，对新兴的失效物理学预计法与217为代表的统计学方法进行了较全面的比较分析。本文对我国可靠性预计技术的进一步发展和提高有一定的参考作用。

铂掺杂铋系超导陶瓷材料性能的研究

用氯铂酸铵对铋系超导陶瓷进行铂掺杂，既能改善Ｂｉ（Ｐｂ）ＳｒＣａＣｕＯ陶瓷的烧结性能，又可以提高其超导特性．通过ＸＲＤ和ＳＥＭ分析，发现一定含量的铂掺杂能促进铋系超导陶瓷晶粒定向排列．文中亦讨论了铂掺杂对铋系超导陶瓷材料磁化率和磁滞回线的影响．

X1525可靠性评估电路单管失效机理的研究

对Ｘ１５２５可靠性评估电路中的单管进行了三组不同应力的可靠性试验及温度为１２５°Ｃ、１７５°Ｃ、２２５°Ｃ的功率负荷试验。试验结果表明，温度和电应力能够改变Ｘ１５２５评估电路中单管的电参数分布，最终使其趋于某一特定值。

元器件缺陷率估计方法的研究

准确估计元器件的缺陷率是开展定量环境应力筛选（ESS）的前提。本文阐述了我国元器件缺陷率的确定原则和计算方法，并利用所推导的计算公式，给出了我国各类元器件在不同质量等级、不同使用环境下的缺陷率（PPM）数据。

中国电子产品质量与可靠性信息交换网工作回顾

1 前言中国电子产品可靠性信息交换网(简称国家网)建于1980年,是军民结合,非盈利性的技术组织。历经四届,现有7个分网,627个网员单位,93年以来建立了15个信息工作站.国家网信息中心“八·五”期间共收集电子装备现场数据26804份,元器件试验和现场作用数据约6.1×10^(11)元件小时,收集B类数据近万份.近五年来,国家网紧密围绕国防重点工作的需要开展可靠性信息收集、分析与应用研究工作,完成了《电子设备可靠性预计手册》第二版的修订研究,研究编制了《电子设备及元器件非工作可靠性预计手册》,开展了新××、××××、××工程的信息跟踪与服务、贯标信息跟踪与服务和新品信息跟踪等工作,并建立了10多个相关的数据库,取得部省级以上成果奖10项。

混合型防霉剂HFM-01在三防涂层中的应用研究

通过筛选试验而研配的混合型防霉剂ＨＦＭ－ ０１ 具有高效、低毒和安全的特点。在涂料中添加ＨＦＭ－ ０１ 可以有效提高涂层的三防（ 防潮、防霉、防盐雾） 性能。

温度和湿度对多层陶瓷电容器贮存性能退化的作用机制研究

多层陶瓷电容器(MLC)在贮存过程中的失效模式主要为损耗增大、绝缘电阻下降,并且随着环境温度和湿度的上升,MLC的性能退化加剧.本文通过分析温度、湿度对MLC性能退化的作用机制,对MLC的失效机理进行了探讨,并推导建立了MLC表面电导与湿度关系的半定量模型.

CL公式软件包的人工图象识别与输入参数研究

我们以 CL 公式为数学模型,研制成 CL 公式自动编程软件包,用 BASIC语言编制而成,在 IBM—PC/XT 微型电脑上实现。它的特点是操作简单,编程人员不需要学刁计算机专用语言,只要进行人工图象认别(矢量转换)后,就能输入参数,计算机即自动打印出数字指令。

军用电子系统环境应力筛选定量分析

本文在相同元件批环境应力筛选失效率分析基础上，引入“更新”

军用与民用环境试验技术的差异与接轨

概述了国内外军用与民用环境试验标准的差异，以及它们相互借鉴和渗透的发展趋势，并结合美国军用标准体系改革的思路。

扩散硅压力传感器工艺过程的FMECA分析

通过将扩散硅压力传感器的每一道工序作为“部件或元件”，构成“工艺”的可靠性框图，进行ＦＭＥＣＡ分析；指出了各个工艺所产生的失效模式、失效原因、失效效应和改进措施。

IC卡发展动态

1974年,一位名叫罗兰·莫尔诺(RolandMoreno)的法国人发明和研制出一种携带方便而又安全的“小东西”,它内装一块硅片,外壳为耐磨材料,外形酷似信用卡、手表和钥匙等等,这就是IC卡的原型。到70年代末期,由于法国Bull公司和美国摩托罗拉欧洲分公司首先开发出微型控制器芯片技术,使莫尔诺的发明更为实用和实惠。

单片机在电梯应急系统中的应用

本文提出了用８７５１单片机作为控制核心的电梯应急系统的设计方案，叙述了硬件设计框架，各单元电路原理，以及软件程序的设计，同时分析了成品系统的运行情况。

直流固态继电器测试中的异常失效及解决方法

本文针对直流固态继电器测试中易发生的异常失效现象，着重分析了测试方法对直流固态继电器的影响，指出了解决异常失效的方法，并给出了相应的测试系统例子。

非3σ控制界限的-R控制图控制界限

控制图是生产企业判定生产过程是否出现异常的一种工具,在生产实践中,控制图控制界限并非以3σ为最佳,而是根据实际情况选择确定。

国外表面安装技术标准

刊登了IEC、EIA、IPC等国际权威机构制定的部分表面安装技术标准。

信息技术的发展与可靠性

本文从信息技术发展特点和趋势入手，探讨了可靠性在信息技术发展过程中的作用以及可靠性技术的内涵随信息时代的到来而产生的变化。通过分析可靠性工程技术面临的挑战和发展机遇，提出了可靠性技术的发展策略。