智能型半导体器件测试系统的抗干扰措施

针对智能型半导体器件测试系统的主要干扰源作了详细的理论分析，并从硬件、软件两个方面介绍了一些提高整个系统可靠性的抗干扰措施。实际运行表明，这些抗干扰措施为该系统的可靠、稳定运行提供了有力的保证。