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缩短先进集成电路开发周期的设计纠错和验证
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作者 Itzik Goldberger 《中国集成电路》 2003年第50期62-65,共4页
面临着越来越复杂的器件要求和对成本极端敏感的终端市场的双重压力。
关键词 集成电路 开发周期 测试 设计
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