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开发全面的设计-测试解决方案
1
作者
许伟达
《中国集成电路》
2003年第48期72-77,共6页
对于集成电路(IC)生产商而言,如今先进的设计和制作工艺为开发前所未有的芯片功能提供了无限潜能。然而,长期以来一直存在于设计和测试之间的鸿沟依旧阻碍生产商进行大规模生产、扩大利润。
关键词
集成电路
设计
测试
解决方案
芯片设计公司
集成化器件生产商
虚拟测试
下载PDF
职称材料
题名
开发全面的设计-测试解决方案
1
作者
许伟达
机构
科利登系统公司上海办事处
出处
《中国集成电路》
2003年第48期72-77,共6页
文摘
对于集成电路(IC)生产商而言,如今先进的设计和制作工艺为开发前所未有的芯片功能提供了无限潜能。然而,长期以来一直存在于设计和测试之间的鸿沟依旧阻碍生产商进行大规模生产、扩大利润。
关键词
集成电路
设计
测试
解决方案
芯片设计公司
集成化器件生产商
虚拟测试
分类号
TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
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作者
出处
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1
开发全面的设计-测试解决方案
许伟达
《中国集成电路》
2003
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