磁共振成像层厚测量技术及其改进

对磁共振成像设备层厚测量技术进行研究。利用Magphan体模在13台设备上对层厚的三种测量方法即单一斜面方法、交叉斜面方法和本文提出的改进方法(考虑几何畸变的交叉斜面测量方法)进行层厚测量实验。实验结果表明(1)进行层厚测量时,应考虑影响层厚测量的因素,并选择合适的体模;(2)三种方法的测量结果存在一定差异,其中考虑几何畸变的交叉斜面测量方法是最好的方法,此方法得到结果最接近真实值。