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最新技术的PT IGBT和功率MOS的比较 被引量:3
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作者 J.道奇 J.莫里森 +1 位作者 许平 刘鹿生 《电力电子》 2004年第3期18-20,共3页
最近由于降低了导通和开关损耗,PT IGBT的性能已在200~300V的额定范围超越了功率MOS管。本文比较了300V的IGBT和300V的功率MOS的所有性能。IGBT的电导调制使导通电压大幅度减少,总的开关损耗几乎与MOS一样。由于有效地控制了少子寿命,... 最近由于降低了导通和开关损耗,PT IGBT的性能已在200~300V的额定范围超越了功率MOS管。本文比较了300V的IGBT和300V的功率MOS的所有性能。IGBT的电导调制使导通电压大幅度减少,总的开关损耗几乎与MOS一样。由于有效地控制了少子寿命,这些PT IGBT适于高频电源的应用。硬开关电路的测试表明,300V的IGBT比功率MOS的成本低,性能更好。 展开更多
关键词 PT IGBT 功率MOS 电力半导体器件 导通电阻 金属氧化物半导体场效应晶体管
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