时域X射线激发荧光断层层析成像方法研究

目标为了能够在X射线激发荧光断层成像(XLCT)中同时重建荧光产率和荧光寿命参数分布,进行了时域XLCT方法研究。方法笔者提出了一种基于时间相关单光子计数(TCSPC)技术的时域XLCT方法 ,并建立了基于广义脉冲谱技术(GPST)的正向模型,通过数值模拟验证时域XLCT方法的可行性。结果能够同时获得荧光产率和荧光寿命参数分布,重建结果具有极高的重建精度和空间分辨率。结论仿真计算结果表明,对于多组分荧光基团,时域XLCT方法能够同时成功重建荧光产率和寿命参数。