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基于ARM的简易电路特性测试仪设计 被引量:2
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作者 魏慕霖 袁良祺 +2 位作者 刘一萱 李沣 陈子寒 《现代计算机》 2019年第31期86-90,共5页
根据2019年全国大学生电子设计竞赛(D题)的要求,设计一种简易电路特性测试仪采用LMV358运放和STM32F407单片机对特定的放大器电路的特性进行测试计算,可在OLED屏显示输入输出电阻、增益系数以及幅频特性曲线,还具备判断放大器电路中元... 根据2019年全国大学生电子设计竞赛(D题)的要求,设计一种简易电路特性测试仪采用LMV358运放和STM32F407单片机对特定的放大器电路的特性进行测试计算,可在OLED屏显示输入输出电阻、增益系数以及幅频特性曲线,还具备判断放大器电路中元器件变化而引起故障或变化原因的功能。该电路特性测试仪具有独立的输入、输出接口,能自动测量并输出显示结果,且拥有准确性、高速型、简易型、普遍性以及可多次加工、成本便宜等的优点。 展开更多
关键词 幅频特性 交流放大 故障分析 ARM
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