VXIbus自动测试设备中的固态开关

Sam Tsai(蔡胜贤)先生为美籍华人,长期在美国HP公司从事仪器设计工作,曾参加过多种VXIbus产品的研制,在美国公开发行的刊物和HP公司的杂志上曾有数篇论文发表。他热情关注我国VXIbus系统的发展,将他从未发表过的论文“VXIbus处自动测试设备中的固态开关”委托孙续教授译出投稿给本刊发表。我们对Sam Tsai先生盼望中华电子测量事业腾飞的心情是理解和赞赏的。本刊在刊登国内作者著、译作品的同时,也热情欢迎在世界各地的华裔学者、外国专家踊跃给本刊投稿。