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基于灵活信号源的半导体器件检测(连载二)
1
作者
Gary McFarlane
《电源技术应用》
2006年第4期67-68,共2页
(接上期)图3显示了检测门限精度使用的波形设置。
关键词
检测门限
半导体器件
信号源
下载PDF
职称材料
题名
基于灵活信号源的半导体器件检测(连载二)
1
作者
Gary McFarlane
机构
美国泰克公司tektronix inc.
出处
《电源技术应用》
2006年第4期67-68,共2页
文摘
(接上期)图3显示了检测门限精度使用的波形设置。
关键词
检测门限
半导体器件
信号源
分类号
TN911.23 [电子电信—通信与信息系统]
TN303 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
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作者
出处
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1
基于灵活信号源的半导体器件检测(连载二)
Gary McFarlane
《电源技术应用》
2006
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