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VLSI/ULSI可靠性的监测与模拟
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作者 杨谟华 方朋 《电子科技导报》 1998年第12期19-23,共5页
论述了VLSI/ULSI可靠性的监测与模拟领域的技术背景、研究特点、技术进展与现代监测分析技术,并进而讨论了VLSI可靠性工程技术发展趋势。
关键词 VLSI/ULSI 可靠性 监测 模拟 BERT 寿命 失效率
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