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题名航天测试与测试体系结构
被引量:7
- 1
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作者
孟汉城
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机构
航天总公司测控公司
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出处
《测控技术》
CSCD
1998年第2期1-3,共3页
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关键词
航天测试
地面测试系统
测试体系结构
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分类号
V556
[航空宇航科学与技术—人机与环境工程]
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题名光刻技术的发展及展望
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作者
苟永明
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机构
中国航天工业总公司测控公司
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出处
《上海微电子技术和应用》
1998年第3期4-9,共6页
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文摘
本文综述了制造集成电路、声表面波器件、微波哗啦的关键工艺一光刻技术的发展,对式、接近式、投影曝光技术分步重复曝光技术及直接扫描成象曝光技术以及所用的曝光光泊-紫外光、X射线、电子束、离子束光源对线条的分辨率、利弊作了对比,并对光刻技术的发展趋势作了简述。
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关键词
光刻技术
光源
分辨率
IC
集成电路
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分类号
TN405.7
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名声表面波器件在通信中的应用
- 3
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作者
苟永明
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机构
中国航天工业总公司测控公司
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出处
《通讯世界》
1998年第2期60-61,共2页
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文摘
声表面波器件在通信中的应用中国航天工业总公司测控公司高级工程师苟永明一、前言声表面波器件(SAWD)在信号处理、频率控制及频率选择、信号获取诸方面具有十分广阔的应用前景。随着无线寻呼、蜂窝电话、无绳电话、无线集群、无中心选址、移动卫星通信、光纤通信等...
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关键词
声表面波器件
SAWD
移动通信
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分类号
TN65
[电子电信—电路与系统]
TN929.5
[电子电信—通信与信息系统]
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题名声表面波器件在通信中的应用
- 4
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作者
苟永明
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机构
中国航天工业总公司测控公司
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出处
《电子信息(深圳)》
1998年第3期13-15,共3页
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关键词
声表面波器件
SAWD
应用
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分类号
TN65
[电子电信—电路与系统]
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题名IEEE1149.1可测试性设计技术的研究与发展
被引量:1
- 5
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作者
邱峰
梁松海
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机构
中国航天工业总公司测控公司测控系统部
清华大学微电子所
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出处
《测控技术》
CSCD
1999年第1期28-30,共3页
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文摘
在分析VLSI可测试性设计技术的发展情况和设计准则的基础上,讨论了研究与发展IEEE1149.1可测试性设计技术的重要意义,以及该技术在我国民用和军用工业应用的前景。
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关键词
可测试性设计
边界扫描测试
VLSI
超大规模
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Keywords
testability, testability design, boundary-scan test, IEEE 1149. 1 standard
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分类号
TN470.7
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名VXI总线模块设计的基本原则
被引量:1
- 6
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作者
徐忠东
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机构
中国航天工业总公司测控公司
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出处
《测控技术》
CSCD
1997年第3期41-44,共4页
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文摘
VXI总线技术的出现是测试领域的一场革命,国内在消化吸收的基础上也正在自主开发,本文从电磁兼容性设计、可靠性设升和可测性设计三个方面对VXI总线模块的设计原则进行了讨论。
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关键词
VXI总线
模块设计
总线接口
电磁兼容性
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Keywords
VXIbus, module design, principle
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分类号
TP336
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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题名声表面波技术在电视领域中的应用
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作者
苟永
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机构
北京中国航天总公司测控公司
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出处
《电视技术》
北大核心
1997年第8期59-64,共6页
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文摘
声表面波技术在电视领域中的应用北京中国航天总公司测控公司苟永明1前言自从1965年怀特发明了激励和检测声表面波(SAW)的叉指换能器后,近30多年的时间,世界各国已研制成功了100多种SAW器件,其中有20多个品种已投入大批量生产,广泛用于无线电通信...
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关键词
电视接收机
声表面波技术
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分类号
TN948.55
[电子电信—信号与信息处理]
TN65
[电子电信—电路与系统]
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