少数载流子寿命测试系统研究

少数载流子寿命是衡量半导体材料性能的关键参数之一 ,文中介绍了光电导衰退法少数载流子寿命测试系统。阐述了光电导衰退法测试原理 ,分析了测试系统构成 ,以及光脉冲下降沿时间、微弱信号放大处理、前放带宽、精密定位等关键技术 ,其主要性能指标是 :少数载流子寿命测试范围 :1× 10 - 7～ 6× 10 - 6s ;可测样品尺寸 :小于 2 0mm ;单色光光点大小 :Φ 0 .3mm ;测试数据稳定度优于 10 %。

ICCD的光纤耦合技术

文中主要介绍ICCD光纤耦合工艺技术的研究工作 ,并介绍了国内外相关技术的历史及发展现状。文中所述的ICCD的耦合工艺 ,继承了国内研究的技术特点 ,同时 ,参考了国际上一些著名公司的相关技术 ,例如以色列的ORLIL公司、法国的PHOTONIS公司、荷兰的DEP公司和ADMEC公司、俄罗斯的ELECTRON公司等。因此 ,具有相当的先进性、代表性和参考价值。