利用START工具实现用户自定义之内存测试方式

前言随着半导体技术不断发展,市面上的各种不同种类、特性的内存,诸如SRAM、ROM、Embedded Flash、DRAM、Embedded DRAM等纷纷被开发和广泛应用,而每个不同种类的内存,甚至不同供货商、不同制造厂提供的内存可能产生的缺陷也都不尽相同。为确保芯片上的内存工作正常,内建自我测试技术(Built-In Self-Test,BIST)成为芯片实作中,不可或缺的一部分。其作用是通过自我测试电路来提高测试的错误涵盖率,缩短设计周期,增加产品可靠度,并加快产品的上市速度。

提高整体开发流程的内存测试电路开发工具

随着半导体工艺技术的提升,IC的规模越来越大、频率越来越高,加上目前IC设计对于内存(SRAM、ROM、Embedded Flash、DRAM、Embedded DRAM)需求的比重越来越大,对于5G、TV、网通、物联网、挖矿机、车用电子、智能语音装置等新一代系统芯片(SoC)内的内存需求量也大,就意味着更大的芯片面积,且随着效能与耗电的要求更加严谨,芯片的工艺也就越往高阶工艺迈进,设计的复杂度越高,开发的时间相对也越高。

车用电子系统与嵌入式内存的成长趋势

前言车用电子系统随着在节能、智能安全以及便利舒适等需求的驱动下,市场规模将逐渐提升;同时,因车辆智能化、电动化,使得车上装置电子化程度日益提高,车用电子在一辆汽车中所占的比重也愈来愈高。根据市场研究公司IC Insights预测,随着技术进步不断增加车内的电子组件用量,预计在2021年以前,车用电子系统将持续成为六大主要半导体终端市场中成长最强劲的应用。IC Insights指出,从2017年到2021年,车用电子系统销售将以12.5%的复合年成长率(CAGR)成长,成长幅度超过其他的主要电子系统类别(见图1)。