X射线粉末衍射仪的测试及使用

X射线粉末衍射技术(XRD)是最重要的材料分析测试技术之一。本文结合作者的实际操作,简单的介绍了操作X射线粉末衍射仪的一些经验及其应用。

一种用于溶液荧光测试的简易除水除氧装置

为了满足溶液荧光测试的需要,自行设计制作了一种简易的除水除氧装置。该装置操作使用方便,非常适用于液体样品的荧光测试。

浅谈PL-GPC50凝胶色谱仪的维护及使用

简要介绍了PL-GPC50凝胶色谱仪的原理、使用及维护,并对仪器使用过程中常出现的故障予以诊断和排除。

C_2H_2/N_2流量比对沉积Ti(C,N)薄膜影响的研究

以C2H2和N2为反应气体，Ar作载气，用多弧离子法在高速钢基片上沉积Ti（C，N）薄膜。所制备的薄膜分别用SEM，XRD，XPS等技术进行分析与测试。给果表明，薄膜结构比较致密，膜厚在1．5～20μm。薄膜呈现了较强的（111）择优取向，且该取向与流量比r＝C2H2／N2有关、薄膜的主要构成是Ti（C，N），但膜中有石墨相存在。

多弧离子法制备的Ti(C,N)微结构随C_2H_2/N_2流量比变化的研究(英文)

用多弧离子法在高速钢(W18Cr4V)基底上沉积了Ti(N,C)薄膜,并运用SEM、XRD、XPS对该膜微观结构随进气流量比r=C_2H_2/N_2变化的情况进行了测试和分析。结果表明薄膜随r增加趋于致密,在r值较小时呈现较强的(111)择优取向,随着r值增大,(111)这一取向逐渐变弱,(220)取向渐强,薄膜呈现典型面心立方结构,主要成分为复合相Ti(N,C),膜含有少量石墨相成分存在。

ZnO薄膜的磁电光性质研究进展

ZnO薄膜是一种具有优良性质的材料,如光电、p-n结特性等,并有多种制备方法,其性质取决于不同的掺杂组分。概述了ZnO薄膜的制备方法、晶格特性、光电特性、p-n结特性及其磁性掺杂。

多弧离子法制备的Ti（C,N）微结构随C2H2/N2流量比变化的研究（英文）

用多弧离子法在高速钢（W18Cr4V）基底上沉积了Ti（N,C）薄膜,并运用SEM、XRD、XPS对该膜微观结构随进气流量比r=C2H2/N2变化的情况进行了测试和分析。结果表明薄膜随r增加趋于致密,在r值较小时呈现较强的（111）择优取向,随着r值增大,（111）这一取向逐渐变弱,（220）取向渐强,薄膜呈现典型面心立方结构,主要成分为复合相Ti（N,C）,膜含有少量石墨相成分存在。