大气风场和温度测量的激光雷达系统及其分析

文中提出了改进的双通道Fabry Perot(F -P)干涉仪大气风场和温度测量激光雷达系统。该系统采用偏振隔离技术 ,提高了Rayleigh散射信号光强的利用率 ,从而提高了系统的测量精度。通过对系统的数值模拟计算 ,结果表明 :风速和温度的测量精度在 30km高度分别达到 1.5m/s和 1.8K ,与过去的系统相比测量误差分别降低了近 4 0 %和 30 %。

试析INTEL MCS-51系列单片机并行I/O口的功能

分析了INTELMCS 5 1单片机并行I/O的结构 ,讨论其输入 /输出功能的特点 ,对现存的一些不同观点进行了分析 。

均匀系热力学关系勒让德变换的对偶对称性

指出热力学关系具有勒让德变换的对偶对称性 .根据对偶关系给出热力学变量的对偶变换表 。

国外创新物理实验设计选介

我们从美国《物理教师》杂志中选择、编译了如下两个创新实验设计资料,供读者借鉴、参考。 1 观察质心运动的生动实验:'杆的质心' 关于抛射体的运动,除了质心这个特殊点一般总沿着抛物线运动以外,其整体的运动实际上是比较复杂的。对学生来讲,观察、研究抛射体质心的运动显得十分重要。

高精度测量光学成像系统畸变的一种新方法——数字图像相关法

用光学成像系统对物体的线度或面积进行非接触式高精度测量时 ,必须考虑成像系统的畸变 ,并对畸变进行高精度的全场测量 .本文提出用数字图像相关技术高精度测量光学成像系统的畸变 .

磁颗粒复合体系中的反常霍耳效应

巨磁阻和反常霍耳效应都是与电子自旋相关散射有关的磁输运现象 应用扩展的有效介质近似方法和双通道模型 ,研究了磁颗粒复合体系中的反常霍耳效应 ,它源于旋轨耦合作用引起的电子非对称自旋相关散射 从理论上计算了反常霍耳效应与磁性颗粒尺寸关系 ,得到与实验基本相符的结果 在反常霍耳效应与磁颗粒浓度关系的研究中 。

具有单轴各向异性的单畴铁磁颗粒体系的磁谱的研究

单畴铁磁颗粒体系的磁谱的研究具有很重要的应用意义 .我们从单畴颗粒的自由能出发 ,应用磁化强度的运动方程和弛豫时间近似的方法 ,获得了单畴铁磁颗粒体系的磁谱与单轴各向异性常数、外场频率和阻尼系数之间的关系 .

随机晶场作用的铁磁自旋系统的临界特性

在伊辛模型的框架内考虑随机晶场作用的铁磁自旋系统的临界特性用有效场理论推导平方格子的磁化表达式 ,重点研究系统的临界特性 ,在某些晶场和随机浓度的范围内呈现出一些新的临界特性 ,我们详细讨论随机浓度对临界特性的影响 。

直接探测激光雷达模型及其性能模拟

讨论了决定直接探测激光雷达性能的信噪比方程和探测概率。开发了基于Monte Carlo方法的激光雷达回波信号模拟软件,给出了典型小脉冲激光雷达性能的模拟结果,表明:在能见度为5km的大气条件下,采用1mJ激光脉冲能量探测距离可达到5km。

直接探测测风激光雷达的性能分析

综述了激光雷达大气风场测量的方法,提出了采用直接探测测量三维风场分布的F P干涉仪方法,简述了测量原理,分析了系统的性能和测量误差,比较了基于分子散射和气溶胶散射的系统测量精度,给出了基于瑞利散射的激光雷达系统方案。

谈谈静电实验

对静电实验中常见的漏电现象、绝缘材料的选取、摩擦起电等问题进行了探讨 .

无规电阻网络的等效电阻

以Y △、串联、并联变换为基础 ,介绍一种计算二维无规电阻网络的等效电阻的普适计算方法 .

水平式光电经纬仪主要性能的分析

介绍了水平式光电经纬仪的结构形式与特点,分析了该结构形式的跟踪性能,给出了轴系误差对测角影响的数学模型.

高压容器爆炸能量的计算

根据 1999年 5月 3日苏州合成化工厂精制釜发生爆炸的实际情况 ,导出了爆炸当量计算制公式

利用光子累计改善成像激光雷达的信噪比方法

介绍了采用光子计数探测的1064nm激光雷达系统。理论分析了光子计数探测技术和信噪比的改善,实验研究了改善信噪比的脉冲累计方法。实验给出了光子累计脉冲与信噪比之间的平方根关系,同时给出了不同距离下的探测结果,数据表明:当光子累计脉冲提高到原来的4倍时,信噪比达到平均1.89倍的增强。

步进电机运行细分设计

讨论了步进电机的细分驱动原理 。

基于减谱法的语音增强和噪声消除的研究

介绍了减谱法进行语音增强的一种方法 .分别对语音和噪声信号进行傅立叶变换 ,求得它们的频谱 ,相减得到的是去噪后语音的频谱 ,再进行傅立叶反变换 ,即可得到增强语言信号 。

富Si-SiO_2薄膜的制备、结构及光致发光特性的研究

利用双离子束溅射沉积共溅射方法制备了富Si SiO2 薄膜 ,研究了沉积参数、时间、工作气压PAr、基片温度等对沉积速率的影响 ,用TEM和XRD分析了样品的结构 ,当基片温度Ts <4 50℃时 ,所制备一系列样品均为非晶结构 ,当沉积基片温度较高时 (Ts ≥4 50℃ ) ,薄膜样品中才出现Si的颗粒 我们还分析了样品的室温光致发光现象 ,从PL谱中可以看出 ,样品有～ 32 0nm、～ 4 10nm、～ 560nm和～ 630nm四个PL峰 。

逆算符在Fock空间的性质及基本特征

研究逆算符a- 1 及 (a+) - 1 在Fock空间的一些性质及相应的对易关系 ,给出相干态的逆算符表示 。