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企业研发过程中的知识产权管理 被引量:4
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作者 崔德国 《科技视界》 2013年第35期309-309,308,共2页
《企业知识产权管理规范》国家标准(GB/T29490-2013)已于2013年3月1日起正式实施,该标准对于企业知识产权管理体系的策划、实施、检查和改进,对促进技术创新、提升核心竞争力,对知识产权管理融入企业研发流程,具有指导与示范作用。
关键词 知识产权 研发立项 专利分析 项目管理
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企业知识产权法律风险与防范的研究 被引量:1
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作者 崔德国 《中小企业管理与科技》 2014年第1期171-172,共2页
当前,衡量企业核心竞争力的重要标志就是企业拥有的知识产权的数量和质量。由于缺乏知识产权保护意识,许多企业出现被别人侵犯或者侵犯他人知识产权的现象,进而在一定程度上使企业遭受损失或者法律制裁。许多知识产权侵权的案例再一次... 当前,衡量企业核心竞争力的重要标志就是企业拥有的知识产权的数量和质量。由于缺乏知识产权保护意识,许多企业出现被别人侵犯或者侵犯他人知识产权的现象,进而在一定程度上使企业遭受损失或者法律制裁。许多知识产权侵权的案例再一次给中小企业敲响警钟:加强知识产权法律意识,一方面保护自有知识产权,另一方面不侵犯他人知识产权。 展开更多
关键词 知识产权 法律风险控制 企业管理 专利权 商标权著作权 商业秘密
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基于MATLAB对激光器在不同腔面结构下的性能分析
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作者 蒋培 詹小红 《科学技术创新》 2020年第1期48-49,共2页
不同的腔面结构往往决定808nm半导体激光器具有不同的输出性能,在已知反射率可以得到相应功率转换效率的基础上引入了光学传输矩阵,依靠MATLAB做数值计算,可以将腔面结构与输出性能做一个直接联系,利用相应的公式建模,直接分析得到在相... 不同的腔面结构往往决定808nm半导体激光器具有不同的输出性能,在已知反射率可以得到相应功率转换效率的基础上引入了光学传输矩阵,依靠MATLAB做数值计算,可以将腔面结构与输出性能做一个直接联系,利用相应的公式建模,直接分析得到在相应工作电流下如何使功率最大化,以及对应自变量反射率,氧化铝的材料厚度等该如何取值。在此基础上进一步探究可靠性,以发生光学镜面损伤(COMD)对应的功率与持续通电过程中输出功率的变化这两者随腔面结构的联系作为衡量标准。从这些测试结果可以得出在指定反射率下氧化铝厚度应采取最小值,并指出局部电场强度过大以及腔面含氧量增多都会对输出性能产生影响,而反射率推算功率也就有了材料厚度在特定范围内才适用的结论。 展开更多
关键词 半导体激光器 腔面结构 反射率 光学传输矩阵 可靠性
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基于虚拟仪器的霍尔电流传感器测试系统的实现
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作者 钱月花 夏金龙 《沙洲职业工学院学报》 2020年第4期14-18,共5页
讨论一款基于虚拟仪器的霍尔电流传感器测试系统的总体方案、系统硬件、系统软件、数据测试和数据分析。该系统可以快速地进行霍尔电流传感器参数检测和合格判定,具有检测速度快、测试精度高、性能稳定、操作简便的优点,且具有高扩展性。
关键词 虚拟仪器 霍尔电流传感器 测试系统
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