光学直接监控技术在镀膜中的应用(英文)

展示真实的工艺结论,介绍在基片本身或监控片上进行光学直接监控的方法应用于大面积(最大基片盘直径1400 mm)镀膜的成功经验。直接监控技术可以最快速的再现高难度的设计要求,保证大面积,高精度镀膜设备上的高成品率。文中列举的各类多层膜的实验结果清楚地证明了这种强大的监控手段的应用潜力。可使用直接监控方式镀膜的膜系包括截至滤光片,偏振膜,分光膜以及多腔带通滤光片。所有这些膜系都是在PIAD(等离子辅助沉积)和PARMS(等离子体辅助反应磁控溅射)的方式下完成的。实验的重复性和均匀性体现了直接监控的优势。在塑料基底上应用等离子体辅助工艺的关键在于调整离子源或等离子源本身。他们改变热度和等离子轰击的能力通常是工艺的关键因素,从而使工艺更适合于象塑料这样对温度和等离子轰击敏感的基材。

等离子辅助镀膜技术在优质高产的镀膜系统中的应用

大规模生产高质量薄膜产品是今后镀膜设备需要解决的问题。等离子体或离子辅助镀膜现在被广泛应用于高质量膜系生产中并取得了良好的效果,但是主要由于等离子体或离子源的原因,产能不高。介绍了一种新型精密光学镀膜系统和一种新型溅射镀膜系统。新的系统能够优质高效地生产复杂膜系,特别适合大规模生产。