渐开线花键副齿侧过盈配合分析与试验验证

渐开线花键副齿侧过盈配合产生的接触应力和变形会对零件自身精度和使用寿命造成影响,为了确定合理的过盈量,首先,对花键副齿侧过盈的几何原理进行了研究,推导了齿侧过盈径向位移和周向位移的计算公式;其次,用有限元仿真验证了几何原理的准确性;最后,根据齿侧过盈几何原理,对齿毂花键齿侧过盈量为0.0020,0.0022及0.0028 mm产生的周向应力应变进行了测试,其有限元仿真结果与试验测试结果误差分别为4.9%,7.6%和7.1%。研究结果表明理论分析符合实际情况,提出的计算方法为渐开线花键副齿侧过盈参数设计提供了理论依据。