基于折反射原理的层去反求技术研究

为了克服传统层去反求测量中图像衬比度较低的缺陷 ,提出一种新的基于棱镜反射原理的层去反求图像摄取方法。该方法利用棱镜的全发射和折射作用提高图像衬比度 ,根据物体反射率的高低可分别采用垂直照明和倾斜照明 ,分别可获得高衬比度的亮目标暗背景和暗目标亮背景图像 ,为了校正由于折反射引入的几何变形 ,推出了相应的数学变换模型。该研究已成功投入实际产品校正的应用中 ,研究表明这种新的层去法比起传统的层去法不仅在于图像衬比度高 ,而且物体截面图像的轮廓更清晰可靠、无需填充反差材料 ,有望在零件及模型的反求测量中发挥较大的作用。