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线性缓变SiGe HBT低温基区滚越时间的研究
被引量:
1
1
作者
张万荣
曾峥
罗晋生
《微电子学》
CAS
CSCD
1996年第3期201-204,共4页
提出了线性缓交SIGeHBT的基区滚越时间τb的解析模型,基于该模型研究了基区渡越时问的低温行为。研究发现,τb随温度的降低而迅速减小,虽然大的基区Ge组份级变有利于τb的减少,但对小的基区缓变的HBT,通过降低温度...
提出了线性缓交SIGeHBT的基区滚越时间τb的解析模型,基于该模型研究了基区渡越时问的低温行为。研究发现,τb随温度的降低而迅速减小,虽然大的基区Ge组份级变有利于τb的减少,但对小的基区缓变的HBT,通过降低温度,也能使τb有较大的减小,改善其频率特性。
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关键词
异质结
双极晶体管
基区渡越时间
应变层
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职称材料
题名
线性缓变SiGe HBT低温基区滚越时间的研究
被引量:
1
1
作者
张万荣
曾峥
罗晋生
机构
西安交通大学电子工程系微电子研究所
出处
《微电子学》
CAS
CSCD
1996年第3期201-204,共4页
基金
国家教委博士点基金
文摘
提出了线性缓交SIGeHBT的基区滚越时间τb的解析模型,基于该模型研究了基区渡越时问的低温行为。研究发现,τb随温度的降低而迅速减小,虽然大的基区Ge组份级变有利于τb的减少,但对小的基区缓变的HBT,通过降低温度,也能使τb有较大的减小,改善其频率特性。
关键词
异质结
双极晶体管
基区渡越时间
应变层
Keywords
Semiconductor device
SiGe device
Strained layer
Heterojunction bipolar transistor
Base transit time
分类号
TN322.8 [电子电信—物理电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
线性缓变SiGe HBT低温基区滚越时间的研究
张万荣
曾峥
罗晋生
《微电子学》
CAS
CSCD
1996
1
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