等离子体显示器件中障壁制作技术的研究

介绍了以国产浮法玻璃作为基板、采用丝网印刷法制作障壁时遇到的主要问题 。

PDP器件中介质的制作技术研究

本文讨论了对 PDP上下基板所用介质层的要求及其浆料选择的原则 ,研究了丝网印刷、干燥和烧结等工艺对介质层厚度、表面状态、透过率、绝缘性能等的影响 ,介绍了减小和消除介质层欠点、针孔、气泡等缺陷的措施 ,确立了一套制作介质层的综合、有效的技术方法。

动态聚焦电子枪的模拟与实验研究

动态聚焦技术是为了满足大屏幕高分辨率彩色显像管及高分辨率彩色显示管的发展需求而产生的一项新技术。在本文中，作者首先提出了一种动态聚焦电子枪结构，进行了数值计算与分析，制作了动态聚焦电子枪并装管实验。通过对实验样管的测试与分析。证实该枪性能良好，动态聚集效果明显。

彩色PDP荧光粉的劣化研究

彩色等离子体平板显示器件已经成为信息显示领域重要发展方向之一 ,荧光粉对PDP器件的性能起着决定性的作用。PDP中的荧光粉是通过丝网印刷的方法涂敷的。荧光粉在制成丝网印刷用荧光粉浆料过程中 ,以及制成PDP器件的过程中 ,都可能使荧光粉的性能降低 ,这就是工序劣化。在制成PDP器件后 ,荧光粉的性能还会随着使用时间的延长进一步降低 ,这就是历时劣化。本文分析了荧光粉的工序劣化和历时劣化产生的原因 ,设计制作了单色PDP试验屏 ,采用CRTColorAnalyzer(CA 1 0 0 )测量了荧光粉在PDP器件中的色坐标 ,并与荧光粉生产厂家提供的色坐标进行比较 ,从而获得了荧光粉的工序劣化和历时劣化值。试验结果表明 ,绿粉 (Zn2 SiO4 ∶Mn2 + )和蓝粉 (BaMgAl10 O17∶Eu2 + )的工序劣化较严重 ,蓝粉的历时劣化最严重 ,其y坐标增大 1 0 % ,x坐标增大 5 %。我们认为改进荧光粉浆料成份和配比 ,从而降低荧光粉的烧结温度以及采用比表面积大的荧光粉颗粒 ,有助于改善工序劣化 ;改进MgO的性能 ,提高其溅射能力以及采用新的驱动方法以避免荧光粉遭受离子轰击 。

窄缝高真空平面玻璃作为太阳能集热器盖板的实验研究

窄缝高真空平面玻璃是一种带高真空夹层的平板玻璃 ,它是将两块普通平板玻璃之间的狭缝抽高真空而成。由于它具有良好的透光、隔热和隔音特性 ,因而有广阔的应用前景。通过对采用窄缝高真空平面玻璃作盖板的太阳能集热器的集热性能进行实验测试 ,介绍了在空晒和有负载条件下集热板的温升速率与太阳辐照强度的关系 ,对真空平面玻璃两面温差及其保温性能也作了测试 。

彩色PDP中荧光粉发光色坐标的测量方法研究

等离子体显示器已成为平板显示领域主要发展方向之一。在等离子体显示器上测得的色坐标包含了两部分 :一部分是荧光粉在PDP器件中发光色的色坐标 ,一部分是PDP工作时气体放电的色坐标。在PDP屏的制作过程中 ,荧光粉经历了浆料制备、干燥、烧结以及老炼等工艺过程。因此 ,荧光粉在PDP屏上表现出的色坐标比起荧光粉体来说会产生一些变化。本文以测量PDP中荧光粉发光色坐标为目的 ,提出了一种用单色PDP屏色坐标、亮度和同结构下气体放电色坐标、亮度来获得荧光粉在PDP屏中色坐标和亮度的方法 ,设计制作了测试PDP屏三基色荧光粉发光色坐标所用的单色试验屏。用CRTColorAnalyzer(CA 1 0 0 )对PDP屏和PDP屏上气体放电产生的亮度和色坐标都进行了测量 ,根据合成颜色的三刺激值与二种已知颜色的三刺激值具有线性叠加关系 ,计算出了荧光粉在PDP器件中的色坐标和亮度。同时 ,用WGD 3型组合式多功能光栅光谱仪对PDP屏和气体放电的发光光谱进行了测量 ,用计算机将测得的发光光谱在同波长下相减 ,从而获得了荧光粉在PDP屏中的发光光谱。结果表明绿粉和蓝粉的色坐标变化较大 ,而红粉变化较小 ,使得PDP白场色温向较低的方向变化。绿粉和蓝粉的发光谱线的半峰宽与原粉比较都有减小 ,峰值发光强度也减小了 ,绿粉的峰值发?

保护膜材料对ACPDP放电特性影响的实验研究

提出了用测量ACPDP(ACplasmadisplaypanel)放电特性和加速老化特性来探求保护膜发射和稳定性能的间接测量方法 ,研制了模拟ACPDP放电特性测量装置 ,为衡量保护膜特性提供了有力的工具。并利用此装置对不同材料保护膜对ACPDP放电特性的影响进行了分析讨论 ,确定了新颖膜材的选择方向 。

PDP制造中的曝光技术研究

在分析 PDP曝光特点的基础上 ,提出了 PDP曝光台的设计原则 ,说明了 PDP曝光时的照度分布调整方法以及校正透镜的原理、作用和加工方法 ,对使用光量计精确控制曝光量以及曝光台超高压水银灯的特点、作用和选择作了详细介绍。介绍了曝光工艺中利用光量计确定感光材料界限曝光量的原理和方法 ,最后对 PDP丝网曝光工艺作了简要介绍。

用于彩色交流等离子体显示板的Ne-Ar-Xe混合气体的研究

由氖 (Ne)氙 (Xe)气体混合组成的放电气体使彩色交流等离子体显示板 (AC PDP)具有着火电压低 ,亮度、光效高的优点 ,但激发态氖原子发出的橙红色可见光对荧光粉发光的色纯影响很大。通过对充入Ne Ar Xe混合气体 (氩气分压强与气体总压强之比从 0 .0 2到 0 .40 )的AC PDP的着火电压、维持电压工作范围、亮度、光效和白场色度的测量 ,研究了氩气对AC PDP光电性能的影响。经过综合比较 ,氩气和氙气分压强与气体总压强之比分别为 0 0 5和 0 0 4时 ,PDP的白场色度较佳 ,而且着火电压适中 ,亮度和光效较高。最后从理论上分析了在Ne

彩色等离子体显示器自动功率控制方法研究

为降低彩色等离子体显示器(PDP)的功耗,提高图像质量,在分析了寻址功耗和图像数据在各子场列方向上的变化率有关的基础上,根据自动功率控制(APC)的原理提出了自动功率控制的方法,该方法的主要内容包括:图像最小残像工作模式,图像信号的平均强度和维持脉冲数的关系,图像负载率和亮度及功耗的关系等。根据以上APC的原理和方法研制的107cm(42英寸)彩色PDP电路在功耗和图像质量方面均达到设计目标。

显示器件综述

近年来显示器件的发展十分迅速,种类繁多,除用于计算机终端显示外,采用计算机编程的大屏幕显示已广泛使用。为了解各种显示器件的性能和在系统中采用适合的显示器件,简要地介绍几种常用的显示器件的基本结构,工作原理及其特点和发展概况,以供读者参考。

等离子体显示器低功耗高对比度驱动电路的研究

详细分析了常用于三电极交流型表面放电等离子体显示屏(AC-PDP)的寻址和显示分离(ADS)的驱动方法及其物理过程,并根据其放电原理对常规的驱动波形进行了改进。实验结果表明,改进的驱动波形简化了PDP的驱动电路,降低了对驱动集成电路耐压的要求,减少了驱动电路的功耗和成本,提高了显示的对比度。

带有浮动电极的等离子体显示板发光效率数值模拟研究

针对表面放电ACPDP中一种大放电间隙的情形 ,采用流体模拟方法 ,研究浮动电极的宽度、间隙以及浮动电极与显示电极平面之间的介质厚度及其相对介电常数对发光效率的影响 ,结果发现浮动电极的宽度和间隙对发光效率影响较大 ,而浮动电极与显示电极平面之间的介质厚度及其相对介电常数则对发光效率影响较小 ,采用浮动电极后最小维持电压得到了较大幅度的降低。

等离子体显示器高对比度驱动方法的研究

本文在传统寻址与显示分离驱动方案的基础上 ,提出了提高显示对比度的新的驱动波形 ,该波形在一场的时间内只有第一子场用了全屏自擦除脉冲 ,而在其它子场 ,则用两个缓慢上升的指数型脉冲使所有单元处于一致状态。和传统驱动波形相比 ,减小了显示的背景光强度 。

25英寸QPF动态聚焦电子枪的计算和分析

采用动态聚焦电子枪是提高ＣＲＴ全屏分辨率的有效手段。本文对一种应用于２５英寸彩色显像管的动态聚焦电子枪进行了设计、计算和分析，并且对实验枪进行了测试和分析。

五电极等离子体显示板触发放电的研究

采用流体模型研究了一种五电极交流等离子体显示板(AC PDP)的单点触发放电过程及其真空紫外线 (VUV)的辐射特性．数值模拟结果表明,在放电期间恰当地调整电极上的驱动电位,可以改变介质层表面电荷积 累,获得较高的壁电压．通过数值模拟还获得了五电极AC PDP维持放电期间的VUV辐射效率,其中173 nm 的VUV辐射占总真空紫外辐射效率的27％,有利于提高AC PDP的发光效率．

彩色等离子体显示器放电气体的研究

实验研究了由He,Ne和Xe组成的放电气体的混合比例和压强对彩色等离子体显示器 (PDP)光电性能的影响。并通过解Boltzmann方程 ,从电子能量的角度对实验结果进行了理论分析。研究结果表明 ,优化的He,Ne ,Xe配比和充气压强可使彩色PDP具有着火电压适当、记忆范围大、亮度和光效高。

彩色显像管显示屏内表面曲率优化问题的研究

利用光学折射原理推导了平面彩色显像管显示屏内表面与其虚像的关系 ,并进行了数值计算模拟 ,得到了显示屏内表面的优化曲率半径。采用此设计方法制作彩色显像管 ,既能得到失真较小的显示图像 ,又能使显示屏内表面曲率半径较大 ,提高显示屏抵抗大气压力的能力。

有浮动电极PDP单元放电串扰的数值模拟研究

利用二维流体模拟方法研究等离子体显示屏(PDP)大维持电极间隙单元之间的放电串扰现象．研究发现 当维持电极间隙较大时,无论它们之间是否有浮动电极,均可能发生相邻单元之间的放电串扰;同时,串扰还 与工作电压有关,电压越高越容易发生串扰．模拟结果显示,串扰仅发生在最初几个维持放电脉冲期间．在单元 之间插入浮动电极,可以有效地阻止单元之间的放电串扰而不影响Xe放电激发效率．

彩色显像管静会聚漂移问题的研究

在采用传统精密一字形电子枪的彩色显像管中，若聚焦电压发生变化，静会聚将产生漂移。如果聚焦电压变化700V，那么21英寸彩管将有大约0．3mm的静会聚漂移。由于静会聚漂移值超过荧光粉节距的50％，所以，静会聚漂移对彩色显像管的分辨率影响很大（若彩色显示管有更精细的荧光粉节距和更高的分辨率，对其影响更大），在高质量彩管设计中必须克服静会聚漂移。对此讨论了产生静会聚漂移的原因，提出了一种克服静会聚漂移的电子枪，并通过数值计算获得了较理想的结果。如果聚焦电压变化700V，采用新枪的21英寸彩管的静会聚漂移仅0．006mm，与原枪相比，屏上电子束斑变化很小。