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对称线性编码测量的三维轮廓术
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作者 张舜德 方强 卢秉恒 《光电工程》 EI CAS CSCD 1999年第3期37-41,共5页
提出一种新的三维轮廓术——对称线性编码轮廓术( S L C P),它利用一对称周期线性结构光编码被测物面,并引入相移技术解码轮廓,因而相位求解简单。详细讨论了 S L C P的原理,并通过实验验证了其可行性。
关键词 线性编码 结构光 相移 轮廓测量
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