氧流量对磁控溅射ZrO_2薄膜光学性能的影响

采用反应磁控溅射法在k9玻璃基底上沉积ZrO2薄膜。用轮廓仪、椭圆偏振仪和分光光度计,分别测试薄膜的厚度、折射率、消光系数和透过率,研究了不同氧流量对薄膜沉积速率和光学特性的影响。结果表明:随着氧气流量增加到22～24mL/min(标准状态下)时,沉积速率从6.8nm/s下降到2.5nm/s,并趋于稳定;在入射波长630nm处,薄膜的折射率为1.95,消光系数小于10-5;在可见及近红外波段,薄膜平均透过率高于80%。