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脉冲离子源所镀膜层厚度分布曲线的测量 被引量:2
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作者 蔡长龙 王季梅 +3 位作者 李 刚 杭凌侠 徐均琪 严一心 《真空电子技术》 2002年第2期25-27,共3页
为了解决大面积类金刚石薄膜的均匀性,首先要研究脉冲离子源所镀制的类金刚石薄膜的厚度分布曲线。针对这一目的,做了大量工艺实验,在不同的脉冲离子源电源参数(主回路电压,脉冲频率)、基片高度以及磁场等工艺参数下制备了样品,并选择... 为了解决大面积类金刚石薄膜的均匀性,首先要研究脉冲离子源所镀制的类金刚石薄膜的厚度分布曲线。针对这一目的,做了大量工艺实验,在不同的脉冲离子源电源参数(主回路电压,脉冲频率)、基片高度以及磁场等工艺参数下制备了样品,并选择了一种合适的膜厚测量仪器进行了膜厚分布测量,获得了在各种工艺参数下脉冲离子源所镀膜层厚度的分布曲线。 展开更多
关键词 脉冲离子源 薄膜沉积 厚度分布曲线 膜厚测量
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脉冲真空电弧离子镀发射特性的测量 被引量:1
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作者 蔡长龙 杭凌侠 +3 位作者 李刚 徐均琪 严一心 朱昌 《光学仪器》 2001年第5期49-52,共4页
通过大量工艺实验 ,镀制了改变脉冲真空电弧离子源电源参数 (主回路电压 ,脉冲频率 )、基片高度以及磁场等工艺参数的样品 ,选择了一种合适的膜厚测量仪器进行了膜厚分布测量 。
关键词 膜厚测量 离子源 薄膜沉积 类金刚石薄膜
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