人颅脑模型内阻抗扰动的电阻抗断层成像测量敏感性研究

目的:研究EIT技术对颅内不同区域病变的敏感性。方法:建立一个可相对准确地模拟脑部电阻率分布及其变化的物理模型,并通过实际的数据测量、图像重构与数值分析的方法,研究EIT技术对于颅内不同位置处的弱电阻率扰动的检测敏感程度。结果:当电极系统与扰动处于同一平面时,可以获得较好的敏感性;而选择模型的中间层电极进行EIT数据采集时,可以保证对模型内各位置处的扰动检测效果。结论:通过合理的电极位置选择,EIT技术可以实现颅内病变的准确检测。