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电感耦合等离子体直接测定纯镉中杂质元素方法研究
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作者 孔建敏 卢鑫 《济源职业技术学院学报》 2011年第4期21-23,72,共4页
建立了利用ICP-AES准确、快速、直接测定纯镉中Pb、Zn、Fe、Cu、Sn、Tl、Sb、As、Ag、Ni等10种杂质元素的分析方法,优化了ICP-AES的分析条件,采用标准基体匹配的方法消除基体效应。结果表明:Pb、Zn、Fe、Cu、Sn、Tl、Sb、As、Ag、Ni等... 建立了利用ICP-AES准确、快速、直接测定纯镉中Pb、Zn、Fe、Cu、Sn、Tl、Sb、As、Ag、Ni等10种杂质元素的分析方法,优化了ICP-AES的分析条件,采用标准基体匹配的方法消除基体效应。结果表明:Pb、Zn、Fe、Cu、Sn、Tl、Sb、As、Ag、Ni等十种杂质元素在0.05μg/ml~1.0μg/ml范围内有良好的均线性关系,相关系数均大于0.999;各元素的检出限在0.0009μg/ml~0.0084μg/ml之间;相对标准偏差RSD<4.80%;回收率在93.68%~104.41%之间。本方法能满足工业化生产纯镉中微量杂质元素快速分析的要求。 展开更多
关键词 ICP-AES 纯镉 杂质元素
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