通过脉冲激光沉积法(PLD)在(001)-SrRuO_3/SrTiO_3(SRO/STO)衬底上生长了CoFe_2O_4/Ba_(0.9)Ca_(0.1)Ti_(0.9)Zr_(0.1)O_3(CFO/BCZT)双层磁电复合薄膜。采用X射线衍射仪(XRD)、原子力显微镜(AFM)和扫描电子显微镜(SEM)测试样品的晶体结...通过脉冲激光沉积法(PLD)在(001)-SrRuO_3/SrTiO_3(SRO/STO)衬底上生长了CoFe_2O_4/Ba_(0.9)Ca_(0.1)Ti_(0.9)Zr_(0.1)O_3(CFO/BCZT)双层磁电复合薄膜。采用X射线衍射仪(XRD)、原子力显微镜(AFM)和扫描电子显微镜(SEM)测试样品的晶体结构及形貌。XRD结果显示:单相BCZT铁电薄膜、CFO铁磁薄膜及CFO/BCZT磁电复合薄膜均为(00l)择优取向结构。物理性能测试结果表明:CFO/BCZT复合薄膜具有良好的铁电性能(剩余极化值,Pr=15. 1μC/cm^2)、铁磁性能和磁电耦合性能(磁电耦合系数,αE~82. 4 m V·cm^(-1)·Oe^(-1))。这种无铅的磁电复合薄膜为设计新型多铁电子器件提供了一种选择。展开更多
文摘通过脉冲激光沉积法(PLD)在(001)-SrRuO_3/SrTiO_3(SRO/STO)衬底上生长了CoFe_2O_4/Ba_(0.9)Ca_(0.1)Ti_(0.9)Zr_(0.1)O_3(CFO/BCZT)双层磁电复合薄膜。采用X射线衍射仪(XRD)、原子力显微镜(AFM)和扫描电子显微镜(SEM)测试样品的晶体结构及形貌。XRD结果显示:单相BCZT铁电薄膜、CFO铁磁薄膜及CFO/BCZT磁电复合薄膜均为(00l)择优取向结构。物理性能测试结果表明:CFO/BCZT复合薄膜具有良好的铁电性能(剩余极化值,Pr=15. 1μC/cm^2)、铁磁性能和磁电耦合性能(磁电耦合系数,αE~82. 4 m V·cm^(-1)·Oe^(-1))。这种无铅的磁电复合薄膜为设计新型多铁电子器件提供了一种选择。