X线头影测量的历史与前景

头影测量是对颅面形状作数学的描述,由原始的头骨测量研究开始,随着X线的发现1931年由Broadbent开始进行X线头颅侧位片拍摄及研究后,它成为了正畸医师临床工作中常用的辅助工具。但它只是一个二维影像,具有一定的局限性。20世纪90年代后期锥形束CT的出现,使X线头影测量从二维时代进入了三维时代,虽然三维头影测量技术处于初级发展阶段,但它应用前景广阔不久的将来三维头影测量技术将逐步取代传统的二维头影测量技术成为重要的头影测量方法,本文将对X线头影测量的历史与前景作综述。