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Sb-Se系和Ge-Sb-Te系相变光盘记录介质的热力学参数、微观结构及光学性能
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作者 陈志武 胡乔生 +2 位作者 张颖 程璇 张喜燕 《金属学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2003年第7期775-780,共6页
利用DSC,X射线衍射及分光光度计,对Sb-Se系和Ge-Sb-Te系记录介质的热力学参数、非晶态薄膜相变前后结构的变化及光学性能进行了系统的研究,结果表明:Sb—Se系非晶态的光稳定性很不理想,随着彼长的改变,反射率变化太快。对于Ge—Sb—Te... 利用DSC,X射线衍射及分光光度计,对Sb-Se系和Ge-Sb-Te系记录介质的热力学参数、非晶态薄膜相变前后结构的变化及光学性能进行了系统的研究,结果表明:Sb—Se系非晶态的光稳定性很不理想,随着彼长的改变,反射率变化太快。对于Ge—Sb—Te系的两种成分合金,在各种波段处都有较大的反衬度,其非晶态的光稳定性也比较理想,随着波长的改变,反射率变化不大。 展开更多
关键词 相变光盘 记录介质 热力学参数 光学 薄膜
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