基于紫外成像的复合绝缘子闪络过程

为解释线路高压绝缘子的不明闪络现象,沈阳工业大学苑舜教授提出等离子体团缩短有效绝缘距离导致击穿论,并给出基于该理论的等离子体粒子运动模型.为验证该理论的正确性,设计并进行基于紫外成像的复合绝缘人工污秽试验,对闪络过程外加紫外成像观测.试验结果表明,在提高电压和增大污秽时,绝缘子金具端的紫外辐射得到增强,等离子体团各参数均有增大趋势,证明了该理论的正确性.理论与试验数据还表明,端部大伞裙绝缘子的污闪电压高于同电压等级端部小伞裙绝缘子.