晶闸管四象限触发特性参数测试技术

晶闸管的触发特性参数是反映其性能的重要参数。现有的仪器只能测量晶闸管在第1、2、3象限的触发特性参数,难以全面表征晶闸管在4个象限的触发性能。研制的装置能够测量晶闸管分别在4个象限的触发特性参数。其中,利用选择开关组合测试标准要求的电压、电流并加载到被测晶闸管上,通过CPU调控门极电压、阳极电流;使用模/数转换器将模拟的触发特性参数信号转换成数字信号并送给CPU,由CPU计算并驱动LCD数字化显示;采用光电耦合器监测晶闸管的触发状态。利用本装置测试了3种晶闸管分别在4个象限的触发特性参数,结果符合晶闸管的导电规律,证明装置可行,适应高校教学以及部分科研单位、企业的测试需求。

二极管反向恢复时间多档测试技术

反向恢复时间Trr是衡量二极管等器件反向恢复特性最重要的参数。针对当前Trr测试仪无法同时满足不同的测试要求,且Trr测量下限大多为20 ns及以上的问题,研制了符合4种要求(分为4档)、数字化显示Trr值的测试装置。利用选择开关构建多档电路,组合不同的正向电流IF脉冲、反向电压UR脉冲加载于被测二极管DUT,产生反向恢复信号。设计发射极耦合逻辑电路形成电压比较器,将该信号变成宽度为Trr的脉冲;使用模/数转换器将其转换为Trr值并驱动发光二极管显示出来,二极管Trr的测量下限可达15 ns。采用本装置的4个档位分别测试了3种二极管,显示的Trr值与示波器的测量值基本吻合,验证了设计的可行性。不仅可以作为综合创新型教学设计案例,还能满足部分企业需求。