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快重离子在石墨中引起表面及体径迹的STM研究
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作者 刘杰 R.Neumann +3 位作者 C.Trautmann C.Müller 侯明东 金运范 《核技术》 CAS CSCD 北大核心 2002年第7期501-505,共5页
用多种快重离子辐照高定向石墨 (HOPG) ,借助扫描隧道显微镜 (STM )系统地研究了表面及体内缺陷。结果表明 ,离子在表面及解理面上都形成了小丘状的缺陷 ,且在表面较容易形成 。
关键词 重离子 高定向石墨 扫描隧道显微镜 辐射损伤 径迹
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