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利用发射光谱测定高纯二硫化钼中的硅 被引量:1
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作者 赵昱 李广济 《中国钼业》 2002年第4期38-39,43,共3页
用碱熔融法浸出二硫化钼中的微量硅 ,采用发射光谱技术进行测定 ,方法简便快速。准确度和精密度可满足高纯二硫化钼产品中微量硅的测定要求。
关键词 测定 高纯二硫化钼 发射光谱 润滑剂
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