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电子管风冷系统的设计计算 被引量:1
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作者 夏昕 王凤兰 《辽宁工业大学学报(自然科学版)》 2013年第3期169-170,191,共3页
介绍了电子管阳极散热器和风冷系统风压损失的计算方法,对现有电子管风冷系统特例进行了设计计算。核算了在给定冷却条件下电子管阳极的散热能力。介绍了通风机工作性能和风冷系统选择通风机的方法。
关键词 风量 风压损失 系统曲线 通风机性能
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电子管内电极温度的计算方法
2
作者 夏昕 王凤兰 《辽宁工业大学学报(自然科学版)》 2013年第2期92-95,共4页
从电子管内电极间辐射换热的基本过程入手,给出了电子管内电极温度的计算方法。编制了用电子计算机计算电子管电极温度的计算程序,并对FU832F型电子管在各种不同状态下的电极温度进行了计算,对各种不同电极材料和工艺方法的管内热状态... 从电子管内电极间辐射换热的基本过程入手,给出了电子管内电极温度的计算方法。编制了用电子计算机计算电子管电极温度的计算程序,并对FU832F型电子管在各种不同状态下的电极温度进行了计算,对各种不同电极材料和工艺方法的管内热状态进行了比较。对不同工作状态和电极材料工艺状态对管内电极温度的影响进行了讨论。 展开更多
关键词 吸收系数 黑度 热辐射流
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大功率电子管的正确使用与维护
3
作者 王凤兰 夏昕 《真空电子技术》 2013年第3期59-61,共3页
本文介绍了大功率电子管自发货至用户使用的注意事项、电子管的正确使用、如何延长使用寿命及维护保养方法。
关键词 大功率电子管 运输 储存 检测 安装 老炼
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如何克服钍钨灯丝电子管的阴极溅散
4
作者 王凤兰 《真空电子技术》 2014年第6期66-68,共3页
本文通过对钍钨灯丝电子管阴极溅散问题的分析及避免阴极溅散问题的探讨,总结影响电子管阴极溅散的几种因素,制定合理而科学的工艺规范,从而选用最佳的工艺方案,提高产品质量。
关键词 阴极溅散 老炼 放气 真空度
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真空电子管螺旋型阴极下垂问题初探
5
作者 王凤兰 卜勇 《真空电子技术》 2015年第3期49-52,共4页
本文讨论了螺旋型阴极电子管阴极下垂形成的原因,并通过实验对螺旋型阴极电子管的阴极下垂实例进行了分析,提出了防止阴极下垂的改进措施。
关键词 重力 法向分量 温度 再结晶
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电子信息工程技术在工业设计中的应用研究
6
作者 崔树波 《电子乐园》 2019年第30期3-3,共1页
随着当前我国经济的快速发展,随之带动了电子信息工程技术的持续进步与跨越,使得电子信息工程技术在工业设计领域的不 断改革中发挥重要的作用。通过对电子信息工程技术的发展现状以及在工业设计中的应用进行研究,找出现存的问题,并探... 随着当前我国经济的快速发展,随之带动了电子信息工程技术的持续进步与跨越,使得电子信息工程技术在工业设计领域的不 断改革中发挥重要的作用。通过对电子信息工程技术的发展现状以及在工业设计中的应用进行研究,找出现存的问题,并探讨找出解决措 施。 展开更多
关键词 电子信息工程技术 工业设计 应用研究
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电真空器件中的高压击穿现象分析 被引量:1
7
作者 王凤兰 夏昕 《真空电子技术》 2014年第1期59-60,共2页
本文介绍了电真空器件高压击穿的机理,产生的原因,以及防止电子管高压击穿应采取的措施。
关键词 高压击穿 跳闸 绝缘体 电极
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冷辗凸模的反击冷校
8
作者 王凤兰 《模具技术》 2014年第6期12-15,共4页
为了解决生产中出现的凸模弯曲报废的问题,分析了冷辗凸模制造工艺,探讨了对冷辗凸模反击冷校的方法,详细介绍了校直的工具和过程,并从理论上分析了校直机理。把校直后的凸模应用在实际生产中取得了满意的结果。实践证明,反击校直不仅... 为了解决生产中出现的凸模弯曲报废的问题,分析了冷辗凸模制造工艺,探讨了对冷辗凸模反击冷校的方法,详细介绍了校直的工具和过程,并从理论上分析了校直机理。把校直后的凸模应用在实际生产中取得了满意的结果。实践证明,反击校直不仅可以校直小直径的工件,也可以校直大直径的杆类以及带有简单阶台、有一定长度的轴类工件。 展开更多
关键词 冷辗 反击冷校 硬度 挠度
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钼片冲孔翻边工艺的改进
9
作者 王凤兰 《真空电子技术》 2014年第6期69-72,共4页
本文通过对钼片冲孔翻边工艺变形过程的力学分析和变形特点的探讨,不断改进工艺试验,总结影响零件质量的几种因素,从而选用最佳的工艺方案,提高产品质量。
关键词 翻边开裂 残余应力 翻边力 钼片
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钼在深拉深时产生开裂原因初探
10
作者 王凤兰 《模具技术》 2015年第1期50-52,共3页
钼在深拉深过程中,极易产生横向开裂和纵向开裂。通过钼在拉深过程中的受力分析,初步探明了零件产生开裂的原因。通过试验,提出了有关的解决措施,并在生产中得到了验证,钼件拉深开裂问题基本上得到了解决。
关键词 深拉深 应力 开裂
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半导体集成电路电源拉偏测试研究
11
作者 崔树波 《电子乐园》 2020年第7期162-162,共1页
经济在快速发展,社会在不断进步,电力在我国发展十分迅速,半导体集成电路产品的详细规范或数据手册中一般都规定了电 源拉偏要求。为了达到该要求,一般而言,IC 产品的测试应覆盖电源电压规定的范围,直观的解决方案就是在所有可能的电源... 经济在快速发展,社会在不断进步,电力在我国发展十分迅速,半导体集成电路产品的详细规范或数据手册中一般都规定了电 源拉偏要求。为了达到该要求,一般而言,IC 产品的测试应覆盖电源电压规定的范围,直观的解决方案就是在所有可能的电源电压条件下 对所有的参数进行测试和验证。但是在实现过程中,考虑到测试效率和测试成本等因素,需要确定不同门类产品各类参数的最坏电源电压 条件,从而进行针对性的拉偏测试,用于提高测试效率并降低成本。 展开更多
关键词 集成电路 电源拉偏测试 参数
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