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提高晶闸管di/dt能力的研究
被引量:
1
1
作者
夏吉夫
潘福泉
关艳霞
《电源技术应用》
2014年第4期17-22,共6页
从di/dt损坏机制,定量公式入手,分析了国内外有关di/dt的著作、文章,研究了提高晶闸管器件di/dt能力的各种有效方法,给出了一个常规新设计及其研究成果。
关键词
晶闸管
DI
dt能力
放大门极
短路点
扩展速度
强触发
下载PDF
职称材料
提高晶闸管di/dt能力的研究
2
作者
夏吉夫
潘福泉
关艳霞
《变频技术应用》
2013年第4期49-53,共5页
从di/dt损坏机制、定量公式入手,分析了国内外有关di/dt的著作、文章,研究了提高晶闸管器件di/dt能力的各种有效方法,给出了一个常规新设计及其研究成果。
关键词
晶闸管
DI
dt能力
放大门极
短路点
扩展速度
强触发
下载PDF
职称材料
题名
提高晶闸管di/dt能力的研究
被引量:
1
1
作者
夏吉夫
潘福泉
关艳霞
机构
锦州市圣合科技电子有限公司
沈阳工业大学信息科学与工程学院
出处
《电源技术应用》
2014年第4期17-22,共6页
文摘
从di/dt损坏机制,定量公式入手,分析了国内外有关di/dt的著作、文章,研究了提高晶闸管器件di/dt能力的各种有效方法,给出了一个常规新设计及其研究成果。
关键词
晶闸管
DI
dt能力
放大门极
短路点
扩展速度
强触发
Keywords
thyristor
di/dt capacity
amplifying gate
cathode shorts
expansion rate
powerful triggering
分类号
TN34 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
提高晶闸管di/dt能力的研究
2
作者
夏吉夫
潘福泉
关艳霞
机构
锦州市圣合科技电子有限公司
沈阳工业大学信息科学与工程学院
出处
《变频技术应用》
2013年第4期49-53,共5页
文摘
从di/dt损坏机制、定量公式入手,分析了国内外有关di/dt的著作、文章,研究了提高晶闸管器件di/dt能力的各种有效方法,给出了一个常规新设计及其研究成果。
关键词
晶闸管
DI
dt能力
放大门极
短路点
扩展速度
强触发
Keywords
thyristor
di/dt capacity
amplifying gate
cathode shorts
expansion rate
powerful triggering
分类号
TN34 [电子电信—物理电子学]
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作者
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1
提高晶闸管di/dt能力的研究
夏吉夫
潘福泉
关艳霞
《电源技术应用》
2014
1
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职称材料
2
提高晶闸管di/dt能力的研究
夏吉夫
潘福泉
关艳霞
《变频技术应用》
2013
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