运算放大器和电压比较器测试技术的实践应用

针对半导体集成电路运算放大器失效模式指出了其测试方法,通过分解半导体集成电路运算(电压)放大器、电压比较器测试电原理图,说明了该类器件的一些主要性能参数测试原理,介绍了在生产实践中测试技术应用方法和注意事项,提出了生产单位怎样建立完整的运算放大器IC测试系统的构想。