期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
2
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
一种基于有源钳位正激拓扑的砖模块电源设计与实现
1
作者
籍祥
高成
+2 位作者
江敏
王香芬
来薇
《电子器件》
CAS
2024年第4期1007-1014,共8页
针对军用电子元器件国产化的应用要求,对标美国SynQor公司MCOTS-C-28型1/4砖电源产品,设计了一种基于有源钳位正激的高效软开关DC/DC变换器。采用有源钳位技术,提高了磁芯利用率,缩小了产品体积,同时降低了电压应力对开关管的影响,减小...
针对军用电子元器件国产化的应用要求,对标美国SynQor公司MCOTS-C-28型1/4砖电源产品,设计了一种基于有源钳位正激的高效软开关DC/DC变换器。采用有源钳位技术,提高了磁芯利用率,缩小了产品体积,同时降低了电压应力对开关管的影响,减小了导通损耗;采用外驱动同步整流技术,有效降低了输出端的整流损耗,提高了变换效率。仿真和试验结果表明,主电路实现了ZVS软开关。在-55℃~100℃工作温度下,输入电压在16 V~40 V宽输入范围内,输出电压基本稳定在28 V,纹波噪声为34 mV,满载时转换效率高达94.8%。产品所用元器件均由国内厂商自主研制,完全满足国产化使用需求。
展开更多
关键词
国产化
砖电源
有源钳位
外驱动同步整流
软开关
下载PDF
职称材料
基于故障注入的NOR Flash单粒子效应模拟方法研究
2
作者
黄姣英
何明瑞
+2 位作者
袁伟
高成
王乐群
《电子测量技术》
北大核心
2022年第13期65-70,共6页
针对目前大容量NOR Flash存储器单粒子效应模拟缺乏具体操作方法的问题,本文提出NOR Flash单粒子翻转、单粒子功能中断、单粒子闭锁3种单粒子效应对应软件故障注入方法,设计适用于大容量器件的板级测试系统并进行功能验证,通过故障注入...
针对目前大容量NOR Flash存储器单粒子效应模拟缺乏具体操作方法的问题,本文提出NOR Flash单粒子翻转、单粒子功能中断、单粒子闭锁3种单粒子效应对应软件故障注入方法,设计适用于大容量器件的板级测试系统并进行功能验证,通过故障注入方法开展单粒子效应模拟实验。NOR Flash存储器单粒子效应测试系统包括FPGA控制逻辑、Flash检测板和上位机软件三部分。结果表明,单粒子翻转、单粒子闭锁和单粒子功能中断3种单粒子效应的软件故障注入方法均通过NOR Flash存储器单粒子效应测试系统得到验证。本文的研究可以为相关单粒子效应模拟提供参考,为分析存储器单粒子效应对电子系统的可靠性影响打下基础。
展开更多
关键词
NOR
Flash
单粒子效应
故障注入
测试系统
模拟方法
下载PDF
职称材料
题名
一种基于有源钳位正激拓扑的砖模块电源设计与实现
1
作者
籍祥
高成
江敏
王香芬
来薇
机构
天航长鹰(江苏)科技有限公司
北京
航空航天大学可靠性工程研究所
陆军装备部驻北京地区第四军事代表室
出处
《电子器件》
CAS
2024年第4期1007-1014,共8页
文摘
针对军用电子元器件国产化的应用要求,对标美国SynQor公司MCOTS-C-28型1/4砖电源产品,设计了一种基于有源钳位正激的高效软开关DC/DC变换器。采用有源钳位技术,提高了磁芯利用率,缩小了产品体积,同时降低了电压应力对开关管的影响,减小了导通损耗;采用外驱动同步整流技术,有效降低了输出端的整流损耗,提高了变换效率。仿真和试验结果表明,主电路实现了ZVS软开关。在-55℃~100℃工作温度下,输入电压在16 V~40 V宽输入范围内,输出电压基本稳定在28 V,纹波噪声为34 mV,满载时转换效率高达94.8%。产品所用元器件均由国内厂商自主研制,完全满足国产化使用需求。
关键词
国产化
砖电源
有源钳位
外驱动同步整流
软开关
Keywords
localization
brick power supply
active clamp
external-driven synchronous rectification
soft switching
分类号
TN86 [电子电信—信息与通信工程]
下载PDF
职称材料
题名
基于故障注入的NOR Flash单粒子效应模拟方法研究
2
作者
黄姣英
何明瑞
袁伟
高成
王乐群
机构
北京
航空航天大学可靠性与系统工程学院
陆军装备部驻北京地区第四军事代表室
出处
《电子测量技术》
北大核心
2022年第13期65-70,共6页
基金
国家国防科技工业局技术基础科研项目(JSZL2016601B007)资助。
文摘
针对目前大容量NOR Flash存储器单粒子效应模拟缺乏具体操作方法的问题,本文提出NOR Flash单粒子翻转、单粒子功能中断、单粒子闭锁3种单粒子效应对应软件故障注入方法,设计适用于大容量器件的板级测试系统并进行功能验证,通过故障注入方法开展单粒子效应模拟实验。NOR Flash存储器单粒子效应测试系统包括FPGA控制逻辑、Flash检测板和上位机软件三部分。结果表明,单粒子翻转、单粒子闭锁和单粒子功能中断3种单粒子效应的软件故障注入方法均通过NOR Flash存储器单粒子效应测试系统得到验证。本文的研究可以为相关单粒子效应模拟提供参考,为分析存储器单粒子效应对电子系统的可靠性影响打下基础。
关键词
NOR
Flash
单粒子效应
故障注入
测试系统
模拟方法
Keywords
NOR Flash
single particle effect
fault injection
test system
simulation method
分类号
TN43 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
一种基于有源钳位正激拓扑的砖模块电源设计与实现
籍祥
高成
江敏
王香芬
来薇
《电子器件》
CAS
2024
0
下载PDF
职称材料
2
基于故障注入的NOR Flash单粒子效应模拟方法研究
黄姣英
何明瑞
袁伟
高成
王乐群
《电子测量技术》
北大核心
2022
0
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部