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集成高速动态分频器的倍频移相扫描电光测量
被引量:
4
1
作者
田小建
衣茂斌
+2 位作者
孙伟
张大明
高艳君
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1998年第7期528-531,共4页
本文测量了集成高速动态分配器的延迟时间,转移特性曲线以及内部点的波形.介绍了倍频移相电光取样方法。
关键词
高速集成电路
倍频移相
砷化镓
测量
下载PDF
职称材料
题名
集成高速动态分频器的倍频移相扫描电光测量
被引量:
4
1
作者
田小建
衣茂斌
孙伟
张大明
高艳君
机构
集成光电子学国家重点联合实验室吉林大学实验室
吉林大学
电子
工程系
出处
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1998年第7期528-531,共4页
文摘
本文测量了集成高速动态分配器的延迟时间,转移特性曲线以及内部点的波形.介绍了倍频移相电光取样方法。
关键词
高速集成电路
倍频移相
砷化镓
测量
Keywords
Electrooptical effects
Measurements
Sampling
分类号
TN430.7 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TN304.23 [电子电信—物理电子学]
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作者
出处
发文年
被引量
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1
集成高速动态分频器的倍频移相扫描电光测量
田小建
衣茂斌
孙伟
张大明
高艳君
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1998
4
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