密封电子元器件微粒碰撞噪声自动检测系统的研究

密封电子元器件内部存在多余物,多年来一直是困扰其应用与发展的关键因素。针对以往多余物微粒碰撞噪声检测(PIND)系统中存在检测精度低、误判和漏判率高等问题,文章提出一种基于小波分析的多余物自动检测方法,研制了具有自主知识产权的密封电子元器件微粒碰撞噪声检测系统。实验结果表明,检测系统运行稳定,性能优异,用户界面友好,各项技术指标均优于国际同类产品。文章提出的检测方法亦适用于其他航天产品的多余物检测。