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微波固态器件与单片微波集成电路技术的新发展 被引量:8
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作者 周德金 黄伟 宁仁霞 《电子与封装》 2021年第2期47-57,共11页
对不同时代的单片微波集成电路(MMIC)的器件工艺发展和应用发展状况进行概况总结,并结合当前的研究与应用热点,重点分析以砷化镓(GaAs)、氮化镓(GaN)为代表的微波化合物固态器件和基于MMIC的异构异质集成新技术路径,并就今后发展的趋势... 对不同时代的单片微波集成电路(MMIC)的器件工艺发展和应用发展状况进行概况总结,并结合当前的研究与应用热点,重点分析以砷化镓(GaAs)、氮化镓(GaN)为代表的微波化合物固态器件和基于MMIC的异构异质集成新技术路径,并就今后发展的趋势做出展望。 展开更多
关键词 微波单片集成电路 氮化镓 砷化镓 磷化铟 异质集成
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GaN高压LED在极小电流与极低温度下的光电特性 被引量:2
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作者 田媛 陈雷雷 +3 位作者 赵琳娜 陈珍海 闫大为 顾晓峰 《微电子学》 CAS 北大核心 2020年第5期709-714,共6页
在图形化蓝宝石衬底上制备了串联结构的氮化镓(GaN)高压发光二极管(LED),分别在极小电流与极低温度下研究了其光电特性。结果表明,在极小电流区(I<1×10^-8 A),主要输运机制为缺陷辅助隧穿。由于能带热收缩效应和辐射复合中心的... 在图形化蓝宝石衬底上制备了串联结构的氮化镓(GaN)高压发光二极管(LED),分别在极小电流与极低温度下研究了其光电特性。结果表明,在极小电流区(I<1×10^-8 A),主要输运机制为缺陷辅助隧穿。由于能带热收缩效应和辐射复合中心的热激活效应,随着温度升高,电致发光(EL)峰发生红移,半高宽(FWHM)增加;光输出强度与注入电流呈幂指数关系,表明极小电流下非辐射复合占主导,且载流子通过缺陷辅助隧穿至量子阱。在极低温度下(T^40 K)仍能观测到电致发光现象,表明载流子并未被完全冻析,在强场下可由施主态或受主态通过缺陷辅助隧穿至量子阱;随着注入电流增加,注入电荷的库伦电场对极化电场的屏蔽作用增强,导致发光峰发生明显的蓝移,能带填充效应则导致半高宽增加。 展开更多
关键词 GaN高压发光二极管 极小电流 极低温度 光电特性
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