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应用激光双底片散斑内涂层法求解三维应力问题
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作者 刘大维 李兴国 《哈尔滨商业大学学报(自然科学版)》 CAS 1993年第2期28-32,共5页
概述了利用双底片散斑照相技术测量物体表面位移的方法。在透明模型内部待测截面涂上一层漫反射层,即可测得该截面上的位移和应变。
关键词 漫反射 散斑 条纹图 傅氏滤波
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