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电力半导体器件热阻及测量 被引量:3
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作者 王维 张金山 陈静 《信息技术》 2000年第6期25-25,28,共2页
介绍了电力半导体器件热阻的测试方法。
关键词 电力半导体器件 热阻 测量 结温升 极限结温
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LQ—1600K打印机常见故障的检修
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作者 宋明 梁英 陈静 《信息技术》 2000年第3期48-48,50,共2页
关键词 针式打印机 LQ-1600K 故障 检修
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