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基于可靠性及噪声约束的电源/地线优化设计
1
作者
李春辉
范明钰
+2 位作者
庄昌文
虞厥邦
黄劲
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000年第8期816-821,共6页
电源 /地线 ( P/G)拓扑结构的优化设计是超大规模集成电路 ( VLSI)中直接影响芯片性能的一个非常重要的问题 .通过对考虑可靠性及噪声的各项约束条件的分析 ,提出了一种时间复杂度为 O( N2m)基于最小代价生成树 ( MST)和改进的 Prim算...
电源 /地线 ( P/G)拓扑结构的优化设计是超大规模集成电路 ( VLSI)中直接影响芯片性能的一个非常重要的问题 .通过对考虑可靠性及噪声的各项约束条件的分析 ,提出了一种时间复杂度为 O( N2m)基于最小代价生成树 ( MST)和改进的 Prim算法的快速构造算法 .实验结果表明 。
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关键词
电源线/地线
可靠性
噪声约束
集成电路
VLSI
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职称材料
题名
基于可靠性及噪声约束的电源/地线优化设计
1
作者
李春辉
范明钰
庄昌文
虞厥邦
黄劲
机构
电子科技大学光电子技术系
ambowcorp.
出处
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000年第8期816-821,共6页
基金
中国博士后基金资助项目
文摘
电源 /地线 ( P/G)拓扑结构的优化设计是超大规模集成电路 ( VLSI)中直接影响芯片性能的一个非常重要的问题 .通过对考虑可靠性及噪声的各项约束条件的分析 ,提出了一种时间复杂度为 O( N2m)基于最小代价生成树 ( MST)和改进的 Prim算法的快速构造算法 .实验结果表明 。
关键词
电源线/地线
可靠性
噪声约束
集成电路
VLSI
Keywords
optimum design
power/ground lines
reliability
noise constraints
分类号
TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于可靠性及噪声约束的电源/地线优化设计
李春辉
范明钰
庄昌文
虞厥邦
黄劲
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000
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