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基于可靠性及噪声约束的电源/地线优化设计
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作者 李春辉 范明钰 +2 位作者 庄昌文 虞厥邦 黄劲 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第8期816-821,共6页
电源 /地线 ( P/G)拓扑结构的优化设计是超大规模集成电路 ( VLSI)中直接影响芯片性能的一个非常重要的问题 .通过对考虑可靠性及噪声的各项约束条件的分析 ,提出了一种时间复杂度为 O( N2m)基于最小代价生成树 ( MST)和改进的 Prim算... 电源 /地线 ( P/G)拓扑结构的优化设计是超大规模集成电路 ( VLSI)中直接影响芯片性能的一个非常重要的问题 .通过对考虑可靠性及噪声的各项约束条件的分析 ,提出了一种时间复杂度为 O( N2m)基于最小代价生成树 ( MST)和改进的 Prim算法的快速构造算法 .实验结果表明 。 展开更多
关键词 电源线/地线 可靠性 噪声约束 集成电路 VLSI
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