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打破调谐范围记录的串联LC储能VCO
1
作者
Louis Vlemincq
《电子设计技术 EDN CHINA》
2012年第1期52-53,共2页
本例提出了一个新颖的振荡器结构。它使用一个串联LC(电感-电容)储能电路,使调谐范围大于采用并联LC方式的电路。这种振荡器结构能够获得宽的频率区间,明显超过最好的宽带调谐变容二极管性能。
关键词
调谐范围
LC
储能
串联
VCO
变容二极管
频率区间
宽带调谐
原文传递
提供多用途触发功能的IC
2
作者
Louis Vlemincq
《电子设计技术 EDN CHINA》
2008年第11期120-120,共1页
图1中的电路不仅在一个IC封装中提供了多达6个通道,而且还增加了更高水平的灵活性。输出1是一个”普通的”触发结构。R1和R2组成的电阻分压器通过电阻R3、R6、R7、R10和R12为所有通道提供一个中位电压的偏置。由于R1/R2的偏压在各个...
图1中的电路不仅在一个IC封装中提供了多达6个通道,而且还增加了更高水平的灵活性。输出1是一个”普通的”触发结构。R1和R2组成的电阻分压器通过电阻R3、R6、R7、R10和R12为所有通道提供一个中位电压的偏置。由于R1/R2的偏压在各个门的迟滞范围内,它们表现为触发器,以稳定的方式保持高或低的状态。
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关键词
触发功能
IC封装
电阻分压器
用途
R12
触发器
通道
偏置
原文传递
测试二极管反向恢复特性的分析仪
3
作者
Louis Vlemincq
《电子设计技术 EDN CHINA》
2007年第10期112-112,116,共2页
测试二极管的反向恢复特性一般都需要复杂的测试设备。必须能够建立正向导通条件、正向闭锁状态、及两者间的过渡。还需要有一种从所得到的波形中提取特征的手段。总而言之,这并不是一项很简单的例行操作,应由专业人员来完成这项复杂...
测试二极管的反向恢复特性一般都需要复杂的测试设备。必须能够建立正向导通条件、正向闭锁状态、及两者间的过渡。还需要有一种从所得到的波形中提取特征的手段。总而言之,这并不是一项很简单的例行操作,应由专业人员来完成这项复杂的工作。这个事实说明了工程师们为什么通常都会依赖于公布的数据。
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关键词
测试设备
恢复特性
二极管
反向
分析仪
导通条件
工程师
原文传递
题名
打破调谐范围记录的串联LC储能VCO
1
作者
Louis Vlemincq
机构
belgacom
公司
出处
《电子设计技术 EDN CHINA》
2012年第1期52-53,共2页
文摘
本例提出了一个新颖的振荡器结构。它使用一个串联LC(电感-电容)储能电路,使调谐范围大于采用并联LC方式的电路。这种振荡器结构能够获得宽的频率区间,明显超过最好的宽带调谐变容二极管性能。
关键词
调谐范围
LC
储能
串联
VCO
变容二极管
频率区间
宽带调谐
分类号
TN248.4 [电子电信—物理电子学]
原文传递
题名
提供多用途触发功能的IC
2
作者
Louis Vlemincq
机构
belgacom
Evere
出处
《电子设计技术 EDN CHINA》
2008年第11期120-120,共1页
文摘
图1中的电路不仅在一个IC封装中提供了多达6个通道,而且还增加了更高水平的灵活性。输出1是一个”普通的”触发结构。R1和R2组成的电阻分压器通过电阻R3、R6、R7、R10和R12为所有通道提供一个中位电压的偏置。由于R1/R2的偏压在各个门的迟滞范围内,它们表现为触发器,以稳定的方式保持高或低的状态。
关键词
触发功能
IC封装
电阻分压器
用途
R12
触发器
通道
偏置
分类号
TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TM935.3 [电气工程—电力电子与电力传动]
原文传递
题名
测试二极管反向恢复特性的分析仪
3
作者
Louis Vlemincq
机构
belgacom
出处
《电子设计技术 EDN CHINA》
2007年第10期112-112,116,共2页
文摘
测试二极管的反向恢复特性一般都需要复杂的测试设备。必须能够建立正向导通条件、正向闭锁状态、及两者间的过渡。还需要有一种从所得到的波形中提取特征的手段。总而言之,这并不是一项很简单的例行操作,应由专业人员来完成这项复杂的工作。这个事实说明了工程师们为什么通常都会依赖于公布的数据。
关键词
测试设备
恢复特性
二极管
反向
分析仪
导通条件
工程师
分类号
TN31 [电子电信—物理电子学]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
打破调谐范围记录的串联LC储能VCO
Louis Vlemincq
《电子设计技术 EDN CHINA》
2012
0
原文传递
2
提供多用途触发功能的IC
Louis Vlemincq
《电子设计技术 EDN CHINA》
2008
0
原文传递
3
测试二极管反向恢复特性的分析仪
Louis Vlemincq
《电子设计技术 EDN CHINA》
2007
0
原文传递
已选择
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