期刊文献+
共找到4篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
Emerging trend for LED wafer level packaging 被引量:2
1
作者 S.W.Ricky LEE Rong ZHANG +1 位作者 K.CHEN Jeffery C.C.LO 《Frontiers of Optoelectronics》 2012年第2期119-126,共8页
Currently most light emitting diode (LED) components are made with individual chip packaging technology. The main manufacturing processes follow conventional chip-based IC packaging. In the past several years, there... Currently most light emitting diode (LED) components are made with individual chip packaging technology. The main manufacturing processes follow conventional chip-based IC packaging. In the past several years, there has been an uprising trend in the IC industry to migrate from chip-based packaging to wafer level packaging (WLP). Therefore, there is a need for LEDs to catch up. This paper introduces advanced LED WLP technologies. The contents cover key enabling processes such as preparation of silicon sub-mount wafer, implementation of interconnection, deposition of phosphor, wafer level encapsulation, and their integration. The emphasis is placed on how to achieve high throughput, low cost manufacturing through WLE 展开更多
关键词 light emitting diode (LED) wafer levelpackaging (WLP)
原文传递
三点弯曲法的PBGA封装实验测试(英文) 被引量:1
2
作者 Dennis Lau Y. S. Chan +3 位作者 S. W. Ricky Lee Lifeng Fu Yuming Ye Sang Liu 《电子工业专用设备》 2007年第3期30-38,共9页
任何电子产品在进入市场之前的可靠性测试是十分重要的环节。为此,在之前的几十年中开发了多种类型的测试方法。一种广泛使用的测试方法便是线路板弯曲测试。进行可靠性测试的一个主要问题就是需要大量的测试样品,这是因为这种测试必须... 任何电子产品在进入市场之前的可靠性测试是十分重要的环节。为此,在之前的几十年中开发了多种类型的测试方法。一种广泛使用的测试方法便是线路板弯曲测试。进行可靠性测试的一个主要问题就是需要大量的测试样品,这是因为这种测试必须重复进行直到获得一致并满意的测量结果。其测试样品的设计,组装工艺和测试程序需要花费长期的时间。如果可靠性测试结果不满意,测试样品需要重新设计、重新生产、重新测试,这从商业的观点来看成本过高且低效。为简化可靠性测试程序,提出了计算模拟的方法在前期设计阶段来预测印制板组装线的可靠性。在目前的研究中,可靠性测试采用了三点弯曲测试法。实现了有限元模式确认及关于该模式应用的2种情况研究。 展开更多
关键词 印制板测试 可靠性测试 三点弯曲测试 有限元模式 应力分析
下载PDF
再成形(Re-Balled)焊球阵列封装的焊球强度评估
3
作者 Lei Nie Michael Osterman +3 位作者 Michael Pecht Fubin Song Jeffrey Lo S.W. Ricky Lee 《电子工业专用设备》 2009年第2期1-5,42,共6页
近年来,许多国家禁止在电子产品中铅的使用,但是一些特定产品拥有豁免权。拥有豁免权的电子产品生产厂商面临含铅元器件供应缺乏的现状,因此生产厂商开始寻求利用焊球再成形技术把焊球阵列封装中的无铅焊球转变为锡铅焊球。焊球再成形... 近年来,许多国家禁止在电子产品中铅的使用,但是一些特定产品拥有豁免权。拥有豁免权的电子产品生产厂商面临含铅元器件供应缺乏的现状,因此生产厂商开始寻求利用焊球再成形技术把焊球阵列封装中的无铅焊球转变为锡铅焊球。焊球再成形技术曾经被用于元器件的回收再利用,但是关于焊球再成形元器件的可靠性信息十分有限。介绍了利用焊球再成形技术使无铅焊球阵列封装转变为锡铅焊球阵列封装。两种焊球去除方法和两种焊球再贴装方法分别用于实现从无铅焊球到锡铅焊球的转变,用以调查再成形工艺对于封装质量的影响。热时效试验以及焊球强度评估用于检测焊球再成形工艺过程。 展开更多
关键词 焊球陈列封装 焊球再成型技术 冷却焊端拉力测试
下载PDF
Spacing optimization of high power LED arrays for solid state lighting
4
作者 Y.Sing Chan S.W.Ricky Lee 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第1期45-49,共5页
This paper provides an analytical approach to determine the optimum pitch by utilizing a thermal resistance network, under the assumption of constant luminous efficiency. This work allows an LED array design which is ... This paper provides an analytical approach to determine the optimum pitch by utilizing a thermal resistance network, under the assumption of constant luminous efficiency. This work allows an LED array design which is mounted on a printed circuit board (PCB) attached with a heat sink subject to the natural convection cooling. Being validated by finite element (FE) models, the current approach can be shown as an effective method for the determination of optimal component spacing in an LED array assembly for SSL. 展开更多
关键词 high power LED thermal resistance network finite element modeling
原文传递
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部